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光纖光譜儀的C-T型結(jié)構(gòu)介紹

閱讀:473      發(fā)布時間:2024-7-2
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C-T型結(jié)構(gòu)(Czerny-Turner結(jié)構(gòu))在光譜分析領(lǐng)域非常常見,主要包括交叉和對稱型兩種形式。以下是關(guān)于這兩種形式的詳細(xì)分析:

 

交叉性C-T型結(jié)構(gòu)如圖所示:

img1 

1. 結(jié)構(gòu)特點(diǎn)

光路折疊:交叉性C-T型結(jié)構(gòu)通過兩個平面鏡將光路進(jìn)行折疊,使得整個光譜儀的結(jié)構(gòu)更為緊湊。

空間利用率:由于光路折疊的設(shè)計,交叉性C-T型結(jié)構(gòu)具有更高的空間利用率,使得光譜儀能夠在更小的體積內(nèi)實(shí)現(xiàn)更多的功能。

2. 技術(shù)特點(diǎn)

靈敏度:交叉性C-T型結(jié)構(gòu)通常具有較高的靈敏度,能夠捕捉到微弱的光信號。

可調(diào)節(jié)性:該結(jié)構(gòu)允許用戶根據(jù)需求更換狹縫、光柵、傳感器和濾光片等元件,以配置所需的光譜儀參數(shù),如分辨率、波長范圍、信噪比和雜散光等。

3. 結(jié)構(gòu)優(yōu)缺點(diǎn)

優(yōu)點(diǎn):

結(jié)構(gòu)緊湊,占用空間小。

可根據(jù)需求靈活配置參數(shù)。

靈敏度較高。

缺點(diǎn):

由于光路折疊,可能存在一些像差和雜散光問題,影響測量精度。

4. 應(yīng)用

交叉性C-T型結(jié)構(gòu)廣泛應(yīng)用于需要高靈敏度、快速響應(yīng)和便攜性的光譜測量場合,如環(huán)境監(jiān)測、食品安全檢測、生物醫(yī)學(xué)研究等。

   

對稱型C-T型結(jié)構(gòu)(通常提到的M型結(jié)構(gòu))如圖所示:

img2 

1. 結(jié)構(gòu)特點(diǎn)

直線光路:對稱型C-T型結(jié)構(gòu)(M型)采用直線光路設(shè)計,沒有光路折疊。

形狀:因其形狀酷似字母“M",故稱為M型結(jié)構(gòu)。

2. 技術(shù)特點(diǎn)

高分辨率:M型結(jié)構(gòu)通過優(yōu)化光路設(shè)計,可以實(shí)現(xiàn)較高的光譜分辨率,滿足對光譜細(xì)節(jié)的高要求。

雜散光性能:M型結(jié)構(gòu)在雜散光抑制方面表現(xiàn)出色,有利于提高測量精度。

3. 結(jié)構(gòu)優(yōu)缺點(diǎn)

優(yōu)點(diǎn):

高分辨率,適用于需要精確光譜分析的場合。

雜散光性能更優(yōu),提高測量精度。

缺點(diǎn):

體積相對較大,空間利用率較低。

成本相對較高。

4. 應(yīng)用

M型結(jié)構(gòu)常用于對光譜分辨率要求較高的場合,如材料科學(xué)研究、光譜成像等。


總結(jié)來說,交叉性C-T型結(jié)構(gòu)以其緊湊的結(jié)構(gòu)和高靈敏度而廣泛應(yīng)用于各種便攜式和快速響應(yīng)的場合;而對稱型C-T型結(jié)構(gòu)(M型)則以其高分辨率和低雜散光性能在光譜分析領(lǐng)域占據(jù)重要地位。在選擇光纖光譜儀時,需要根據(jù)具體的應(yīng)用需求來選擇合適的結(jié)構(gòu)類型。

 

北京鑒知技術(shù)有限公司為客戶提供高性價比的產(chǎn)品及解決方案,提供紫外、可見、近紅外波段的光纖光譜儀。


 


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