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北京中科微納精密儀器有限公司
中級(jí)會(huì)員 | 第5年

13011285763

粉末/粉體電阻率測(cè)試儀
粉末壓實(shí)密度儀
振實(shí)密度測(cè)試儀
全自動(dòng)真密度測(cè)試儀
粉末顆粒影像測(cè)試儀
粉末綜合物性測(cè)試儀
炭素材料檢測(cè)儀器
電阻率測(cè)定儀
比表面積測(cè)試儀
導(dǎo)體、半導(dǎo)體電阻率
介電常數(shù)測(cè)試儀
熱物性檢測(cè)儀器
受電弓/碳滑板檢測(cè)儀器
電壓擊穿試驗(yàn)儀
電池隔膜電弱點(diǎn)測(cè)試儀
耐電弧測(cè)試儀
漏電起痕試驗(yàn)儀
橡塑檢測(cè)儀器
海綿泡沫檢測(cè)儀器
力學(xué)檢測(cè)試驗(yàn)機(jī)
燃燒性能試驗(yàn)機(jī)
電池檢測(cè)
焙燒爐試驗(yàn)機(jī)
粉末密度測(cè)試儀
粉體流動(dòng)性測(cè)試儀

體積表面電阻率測(cè)試儀簡(jiǎn)介

時(shí)間:2023/12/4閱讀:412
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符合標(biāo)準(zhǔn):

GBT 31838.2-2019 固體絕緣材料 介電和電阻特性 

第2部分:電阻特性(DC方法) 體積電阻和體積電阻率

第3部分:電阻特性(DC方法)表面電阻和表面電阻率

第4部分:電阻特性(DC方法) 絕緣電阻

GB/T 1410-2006《 固體絕緣材料體積電阻率和表面電阻率試驗(yàn)方法》(本標(biāo)準(zhǔn)已作廢)

ASTM D257-99《絕緣材料的直流電阻或電導(dǎo)試驗(yàn)方法》

GB/T 10581-2006 《絕緣材料在高溫下電阻和電阻率的試驗(yàn)方法》

GB/T 1692-2008 《硫化橡膠 絕緣電阻率的測(cè)定》

GB/T 2439-2001《硫化橡膠或熱塑性橡膠 導(dǎo)電性能和耗散性能電阻率的測(cè)定》

GB/T 12703.4-2010 《紡織品  靜電性能的評(píng)定  第4部分:電阻率》

GB/T 10064-2006_《測(cè)定固體絕緣材料絕緣電阻的試驗(yàn)方法》

GB 1672-1988 液體增塑劑體積電阻率的測(cè)定

產(chǎn)品概述

本儀器主要用于測(cè)試絕緣材料的絕緣電阻、體積電阻及表面電阻值,本儀器是一臺(tái)通用試驗(yàn)儀器,通過(guò)選配不同的測(cè)試電極,可以滿足和測(cè)試所有不同類型的絕緣材料,如:粉末、片材、薄膜和液體溶液等。本儀器測(cè)試量程比較款,最高可以到1018Ω,幾乎可以滿足于市場(chǎng)上所有的絕緣材料的測(cè)試。

材料類型:

適用于橡膠、塑料、薄膜、塊體等絕緣材料及粉體、液體、固體和膏體形狀的各種絕緣材料體積和表面電阻值的測(cè)定。

適用客戶:

適用于計(jì)量院、第三方檢測(cè)機(jī)構(gòu)、科研院所、生產(chǎn)企業(yè)研發(fā)、質(zhì)量品管檢測(cè)等用戶。

典型應(yīng)用

1、測(cè)量絕緣材料電阻、體積電阻、表面電阻(率)

2、測(cè)量防靜電材料的電阻及電阻率

3、測(cè)量計(jì)算機(jī)房用活動(dòng)地板的系統(tǒng)電阻值

4、測(cè)量防靜電鞋、導(dǎo)電鞋的電阻值

5、光電二極管暗電流測(cè)量

6、物理,光學(xué)和材料研究

工作原理

根據(jù)歐姆定律,被測(cè)電阻Rx等于施加電壓V除以通過(guò)的電流I。傳統(tǒng)的高阻計(jì)的工作原理是測(cè)量電壓V固定,通過(guò)測(cè)量流過(guò)取樣電阻的電流I來(lái)得到電阻值。從歐姆定律可以看出,由于電流I是與電阻成反比,而不是成正比,所以電阻的顯示值是非線性的,即電阻無(wú)窮大時(shí),電流為零,即表頭的零位處是∞,其附近的刻度非常密,分辨率很低。整個(gè)刻度是非線性的。又由于測(cè)量不同的電阻時(shí),其電壓V也會(huì)有些變化,所以普通的高阻計(jì)是精度差、分辨率低。

本儀器是同時(shí)測(cè)出電阻兩端的電壓V和流過(guò)電阻的電流I,通過(guò)內(nèi)部的大規(guī)模集成電路完成電壓除以電流的計(jì)算,然后把所得到的結(jié)果經(jīng)過(guò)A/D轉(zhuǎn)換后以數(shù)字顯示出電阻值,即便是電阻兩端的電壓V和流過(guò)電阻的電流I是同時(shí)變化,其顯示的電阻值不象普通高阻計(jì)那樣因被測(cè)電壓V的變化或電流I的變化而變,所以,即使測(cè)量電壓、被測(cè)量電阻、電源電壓等發(fā)生變化對(duì)其結(jié)果影響不大,其測(cè)量精度很高;從理論上講其誤差可以做到零,而實(shí)際誤差可以做到千分之幾或萬(wàn)分之幾。



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