迅速對(duì)IL、RL或PDL進(jìn)行波長(zhǎng)掃描測(cè)量 采用*電子技術(shù)，只需一次掃描便可以實(shí)現(xiàn)整個(gè) 動(dòng)態(tài)范圍內(nèi)的IL鑒定，是測(cè)試頻譜對(duì)比度高的器件的 理想工具 可安裝多達(dá)10個(gè)熱插拔模塊，以提供50個(gè)光輸出端 口，甚至通過(guò)菊花鏈連接提供100+個(gè)光輸出端口來(lái)測(cè) 試器件 配備強(qiáng)大、直觀的圖形用戶界面（GUI），便于配置測(cè) 試和分析測(cè)量結(jié)果 支持全波段IL、RL和PDL測(cè)量，覆蓋從1240 nm到1680 nm 的波長(zhǎng) 提供激光器共享功能，在多8個(gè)測(cè)試臺(tái)間共享一個(gè)或 多個(gè)激光器

CTP10是一種模塊化測(cè)量平臺(tái)，可高效地測(cè)試全天候運(yùn)行的無(wú)源器件。該平臺(tái)可直接控制一臺(tái)或多臺(tái)T100S-HP激光器，在幾秒 內(nèi)實(shí)現(xiàn)高分辨率頻譜鑒定。一臺(tái)CTP10可為IL、RL或PDL測(cè)量提供波長(zhǎng)掃描、數(shù)據(jù)收集與處理、以及曲線顯示與分析功能，從 而成為一款非常誘人、易于使用的無(wú)源器件測(cè)試解決方案。它能夠以高達(dá)80 dB的動(dòng)態(tài)范圍、非常高的速度與分辨率，通過(guò) 一次掃描便完成插損測(cè)量。該平臺(tái)可連接多達(dá)50個(gè)檢測(cè)器，成為測(cè)試DWDM網(wǎng)中所用大端口數(shù)器件以及光子集成電路（PIC） 的理想儀表。 它運(yùn)行操作系統(tǒng)幾乎消除了由數(shù)據(jù)傳輸而導(dǎo)致的任何停機(jī)時(shí)間。它還配備一個(gè) 大容量?jī)?nèi)置硬盤(pán)，用于直接存儲(chǔ)數(shù)據(jù)和通過(guò)兼容SCPI的命令進(jìn)行全遠(yuǎn)程控制。