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１．概述

1.1 簡介

TY-ABR-1000 裝置，在本公司制造的自動雙折射測量裝置（TY-ABR-1000 系列）的基礎(chǔ)上增設(shè)了應(yīng)力載荷裝置，由此可以測量到高精度的光彈性常數(shù)。測量方法是，采用配置的拉伸/壓縮試驗機，對樣品施加載荷的同時測量光彈性常數(shù)。

雙折射測量的方式，由于采用光學(xué)外差法的普通光路干涉儀，及通過Fourier分析法進行數(shù)據(jù)處理的方式， 其特點是速度快，精度高，并不受振動及空氣流動等外界干擾。干涉儀采用波長為633 nm的頻率穩(wěn)定的橫向Zeeman激光器（輸出2 mW）作為光源，盡量減少設(shè)備構(gòu)成中的光學(xué)部件，實現(xiàn)了*使用過程中，基本上無需維護的構(gòu)造。

１．２ 特點

◎測量時間 3秒以下/測量點

◎解析度 雙折射相位差：0.01nm  

主軸方位角：0.1deg.

◎精度 應(yīng)力松弛可控制到*小化

◎負(fù)載量 量程0～50N  *小讀數(shù)0.01N

（收費選項：添加可切換式量程）  

◎測量位置確認(rèn) 可通過目測來確認(rèn)測量位置

◎操作簡單 根據(jù)菜單指示用鼠標(biāo)進行簡單操作

◎用于研究及質(zhì)量管理

１．３ 雙折射測量原理

本設(shè)備使用由兩個線性偏振光分量（f1，f2）組成的穩(wěn)頻激光器（STZL），兩個線性偏振光分量的光頻 率略有不同并且彼此正交。 該雙頻光被斜角分離器分成兩個光路，并且每個均被線性偏振器混合成外差。由光電二極管進行光電轉(zhuǎn)換的拍頻信號（fb = f1-f2）為幾百kHz，可以通過示波器或電相位計讀取。

以此方式，樣品的光學(xué)相位差（δ）被轉(zhuǎn)換為拍頻信號的相位差（δ），并且可以容易地被測量。如圖所示，通過使半波片和線性偏振片同步旋轉(zhuǎn)來獲得樣品的主軸方向（φ）。

○ 相位差：Rｅ

Rｅ=(λ／２π)δ=(ｎＳ－ｎＦ)d  

?λ ：光源波長

?δ ：實測相位差  

?ｎＳ,ｎＦ ：主折射率

?ｄ      ：樣品厚度

○ 主軸方位角：φ

１．４ 主要規(guī)格

１．４．１ 光彈性常數(shù)的測量性能及規(guī)格性能

規(guī)格

１．４．２ 雙折射測量性能及規(guī)格性能

規(guī)格

１．４．3 裝置外形

光彈性測量裝置 型號TY-ABR-100 0

１．５ 測量例

１．５．１ 光彈性常數(shù)測量

光彈性常數(shù)TAC（三乙酰纖維素）薄膜  

歪失真量VS相位差TAC（三乙酰纖維素）薄膜