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敞開式HEIDENHAIN直線光柵尺
當(dāng)平行光穿過光柵時，以特定的間隔形成明暗的光影區(qū)。在該處設(shè)有柵距相同或相近的掃描光柵。當(dāng)兩個光柵相對運(yùn)動時，入射光被調(diào)制：在狹縫對齊時，光線通過。如果一個光柵的刻線與另一個光柵的狹縫對齊，光線無法通過。光電池將這些光強(qiáng)變化轉(zhuǎn)化成電信號。特殊結(jié)構(gòu)的掃描掩膜將光強(qiáng)調(diào)制為近正弦輸出信號。光柵條紋的柵距越小，掃描掩膜與光柵尺間的間距越小，公差越嚴(yán)。對
產(chǎn)品簡介
詳細(xì)介紹
敞開式HEIDENHAIN直線光柵尺
傳感器生成四路近正弦電流信號（I0°， I90°，I180°和I270°），相互間的相位差 為90°電子角。這些掃描信號開始時并 不對稱于零線。因此，反向平行地連接 光電池，以生成兩路相位差90°電子角 的輸出信號I1和I2，這兩路信號對稱于 零線。
在示波器的X/Y坐標(biāo)圖中，這兩路信號 形成李薩如圖。理想輸出信號顯示為中 心圓。偏離正圓形和偏離位置的原因是 位置誤差所致，因此直接影響測量結(jié) 果。圓的大小對應(yīng)于輸出信號幅值， 它可在一定限度內(nèi)變化，不影響測量 精度
干涉掃描原理
干涉掃描原理是利用精細(xì)光柵的光衍射和 光干涉生成位移測量的信號。
階梯光柵作為測量基準(zhǔn)：在平反光面上刻 有0.2 µm高度的反光線。其前方是掃描掩 膜，其柵距與光柵尺的柵距相同，是透射 相位光柵。
光波穿過掃描掩膜時，將光波衍射為光強(qiáng) 近似的三束光：+1、0和-1。在被光柵尺 衍射的光波中，在反射的衍射光中，光強(qiáng) 至強(qiáng)的光束為+1和-1。這兩束光在掃描掩 膜的相位光柵處再次相遇，再一次被衍射 和干涉。也形成三束光，并以不同的角度 離開掃描掩膜。光電池將這些交變的光強(qiáng) 轉(zhuǎn)化成電信號。
當(dāng)光柵與掃描掩膜之間有相對運(yùn)動時，衍 射波面產(chǎn)生相位移：移過一個柵距時將正 一級衍射波面在正方向上偏移一個光波波 長，而負(fù)一級衍射光波面在負(fù)方向上偏移 一個光波波長。由于這兩束光離開相位光 柵時相互發(fā)生干涉，這兩束光彼此相對位 移兩個光波波長。也就是說，相對運(yùn)動一 個柵距可以得到兩個信號周期。
干涉光柵尺的柵距較小，例如8 µm、4 µm甚至更小。其掃描信號基本沒有高次 諧波，能進(jìn)行高倍頻細(xì)分。因此，這些光 柵尺特別適用于小測量步距和高精度應(yīng) 用。當(dāng)然都滿足實(shí)用的安裝公差要求。 LIP、LIF和PP直線光柵尺采用干涉掃描 原理。
敞開式HEIDENHAIN直線光柵尺
LIDA 473，LIDA 483
帶限位開關(guān)的增量式直線光柵尺
• 測量步距達(dá)10 nm
• 玻璃或玻璃陶瓷測量基準(zhǔn)
• 易于安裝，粘結(jié)固定
• 直線光柵尺和讀數(shù)頭配套使用
