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| 產(chǎn)地類別 | 進(jìn)口 | 價(jià)格區(qū)間 | 面議 |
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| 應(yīng)用領(lǐng)域 | 化工,生物產(chǎn)業(yè),建材,制藥,綜合 |
產(chǎn)品分類品牌分類
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產(chǎn)品簡(jiǎn)介
詳細(xì)介紹
XD laser激光干涉儀 XD laser激光干涉儀
一維測(cè)量系統(tǒng)XD –1D標(biāo)準(zhǔn)型&精密型
三維測(cè)量系統(tǒng)XD –3D
五維測(cè)量系統(tǒng)XD –5D標(biāo)準(zhǔn)型&精密型
六維測(cè)量系統(tǒng)XD –6D 標(biāo)準(zhǔn)型&精密型
測(cè)量機(jī)床全部誤差所用的時(shí)間越短，越能夠反映所測(cè)機(jī)床的真實(shí)情況。當(dāng)用傳統(tǒng)干涉儀測(cè)量時(shí)，因在測(cè)量各項(xiàng)指標(biāo)時(shí)更換光學(xué)鏡調(diào)整光路上要浪費(fèi)大量的時(shí)間，難以保證機(jī)床檢測(cè)數(shù)據(jù)的穩(wěn)定性和重復(fù)再現(xiàn)性。XD系列激光干涉儀約在2000年進(jìn)入中國(guó)市場(chǎng)，結(jié)合激光干涉技術(shù)和光電自準(zhǔn)直技術(shù):不僅可用于精度的終評(píng)價(jià), 也可用于機(jī)床的安裝調(diào)整。XD Laser 激光干涉儀是API公司的產(chǎn)品。-次安裝即可以測(cè)得6個(gè)參數(shù).包括1個(gè)位置度誤差. 2個(gè)直線度誤差和3個(gè)角度誤差。通常時(shí)間需數(shù)天進(jìn)行的測(cè)試，使用API激光干涉儀只需幾個(gè)小時(shí)即可完成。實(shí)際應(yīng)用結(jié)果表明:可節(jié)省時(shí)間高達(dá)80%。
圖示：XD激光干涉儀
*結(jié)構(gòu)設(shè)計(jì)
API公司采用了穩(wěn)定鋼球與絕熱層的雙重定位設(shè)計(jì)，將干涉鏡用高絕熱層與激光器主機(jī)隔開(kāi)，從而避免了干涉鏡受熱變形，用穩(wěn)定鋼珠將干涉鏡前端的干涉區(qū)與下端底盤(pán)定位相連，從而使激光管及電路板發(fā)熱而引起的熱膨脹方向沿穩(wěn)定鋼珠中線向后，使得干涉鏡不受影響，保證了測(cè)量準(zhǔn)確性。
主要特性：
??一次安裝能測(cè)量6項(xiàng)精度指標(biāo)包括線性定位誤差、XX及YY兩個(gè)方向直線度、偏擺角、俯仰角、滾動(dòng)角
??把反射鏡換成五棱鏡既可測(cè)量?jī)奢S間垂直度
??兩點(diǎn)調(diào)光線.無(wú)需三腳架. 測(cè)量調(diào)整簡(jiǎn)單快速
??傳統(tǒng)激光干涉儀測(cè)量20項(xiàng)精度指標(biāo)(三軸)，約需3天的時(shí)間；API干涉儀只約需半天!
??測(cè)量直線度/小角度/垂直度/轉(zhuǎn)臺(tái)時(shí), 不怕斷光, 可當(dāng)自準(zhǔn)直儀用, 用于機(jī)床裝配調(diào)試
機(jī)床主要誤差：
激光干涉儀 ↓ 幾何誤差(21項(xiàng)：線性定位誤差 | 主軸測(cè)量系統(tǒng)： ↓ 溫升熱變性誤差： 主軸溫升 導(dǎo)軌溫升變性 |
美國(guó)API軟件功能：
從初的系統(tǒng)校準(zhǔn)到測(cè)量結(jié)果的審查.再到機(jī)床的空間精度補(bǔ)償，API軟件 都會(huì)無(wú)微不至地協(xié)助您完成測(cè)量工作:易于使用一- 界面設(shè)計(jì)明朗，讓操作者一目了然。高效多功能一無(wú)論您測(cè)量位置度.直線度.角度、平面度甚至是空間誤差補(bǔ)償以及數(shù)控程序，XD Laser和API軟件都將伴您左右，幫助提高您的生產(chǎn)效率。
SPELECNIR是市場(chǎng)上*將近紅外光譜與電化學(xué)測(cè)量集成在一起的儀器，所有組件都完美匹配，其中電化學(xué)和光學(xué)測(cè)量可以實(shí)現(xiàn)準(zhǔn)確同步。儀器中集成了光源、光譜儀和一臺(tái)雙恒電位/恒電流儀。
該儀器還可以作為近紅外光譜儀或雙恒電位/ 恒電流儀獨(dú)立使用。SPELECNIR可以與標(biāo)準(zhǔn)比色皿支架或光譜電化學(xué)測(cè)試池池一起使用，也可以配合DropSens測(cè)試池和絲網(wǎng)印刷電極一起使用。
主要特點(diǎn)
• DropView同時(shí)控制光譜與電化學(xué)測(cè)量
• 光譜信號(hào)與電化學(xué)測(cè)量同步采集
• 實(shí)時(shí)采集光譜，無(wú)延遲
• 暗譜與參考譜校正
• 計(jì)數(shù)、吸收率、透射率和反射率測(cè)量和計(jì)算
• 自動(dòng)和手動(dòng)快門控制
• 自由選擇積分時(shí)間
• 強(qiáng)大的數(shù)據(jù)處理和分析
• 可分別提供光譜和電化學(xué)曲線相關(guān)信息
強(qiáng)大的的數(shù)據(jù)采集與結(jié)果處理
• 實(shí)時(shí)控制面板，可在電化學(xué)測(cè)量過(guò)程中隨時(shí)連續(xù)收
集生成的光譜。
• 特定波長(zhǎng)下光譜與電化學(xué)曲線圖：電位吸收?qǐng)D，計(jì)時(shí)
吸收?qǐng)D和微分圖。
• 獨(dú)立收集每個(gè)光譜和電化學(xué)曲線的信息。
• 的EC范圍內(nèi)捕獲的光譜, 獲取與特定EC點(diǎn)相關(guān)
的光譜。
• 繪制疊加，峰積分，平滑（所有原始數(shù)據(jù)光譜）。
• 三維繪圖, 錄制實(shí)驗(yàn)影片。
• 所有數(shù)據(jù)均可導(dǎo)出Excel。
