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產(chǎn)品簡(jiǎn)介
電極電阻測(cè)試系統(tǒng)可以看出根據(jù)材料，結(jié)構(gòu)和生產(chǎn)條件不同引起的敷料層電阻和界面電阻的變化
詳細(xì)介紹
日置HIOKIRM2610電極電阻測(cè)試系統(tǒng)
將鋰電池（LIB）電極片的敷料層電阻和界面電阻數(shù)值化
● 將LIB正負(fù)電極片的電阻分離并數(shù)值化為敷料層電阻和界面電阻
● 數(shù)值化后的敷料層電阻和界面電阻有助于改善和提高LIB。
※ 集流體和敷料層的接觸電阻
● 可以檢查L(zhǎng)IB電極片的均勻性
● 可以看出根據(jù)材料，結(jié)構(gòu)和生產(chǎn)條件不同引起的敷料層電阻和界面電阻的變化
日置HIOKIRM2610電極電阻測(cè)試系統(tǒng)參數(shù)
基本規(guī)格的電極電阻測(cè)試儀RM2611需要定期校正。
測(cè)量對(duì)象 | 鋰電池的正極片和負(fù)極片 |
測(cè)量項(xiàng)目 | 敷料層體積電阻率[Ωcm] 敷料層和集流體之間的界面電阻（接觸電阻）[Ωcm^2] |
運(yùn)算方法 | 基于有限體積法的電位分布反向推導(dǎo) |
運(yùn)算所需信息 | ● 敷料層厚度[μm] ( 單面) ● 集流體厚度[μm] ● 集流體體積電阻率[Ωcm] |
測(cè)量時(shí)間 | 標(biāo)準(zhǔn)條件：75 s ( 接觸檢查+電位分布測(cè)量+運(yùn)算) |
測(cè)量電流 | 10 μA (小)?10 mA () |
探頭數(shù)量 | 46根 |
PC配置 | CPU ：英特爾®Core™ i7, 2.4 GHz, 4 線程以上 內(nèi)存 ：8 GB 以上( 需要空閑內(nèi)存4 GB ) OS ：Windows7(64bit)，8(64bit)，10(64bit) |
溫度測(cè)量功能 | 測(cè)量測(cè)試治具周邊的溫度 |
附件 | 溫度傳感器Z2001×1，USB連接線×1，USB許可證密匙×1，探針檢查板×1，電源線×1，使用說(shuō)明書(shū)×1 |