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[供應(yīng)]BEST-300C-四探針方阻電阻測(cè)試儀
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  • BEST-300C-四探針方阻電阻測(cè)試儀
貨物所在地:
北京北京市
更新時(shí)間:
2025-01-20 21:00:07
有效期:
2025年1月20日 -- 2025年7月20日
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產(chǎn)品簡介

四探針方阻電阻測(cè)試儀參照標(biāo)準(zhǔn):

1.硅片電阻率測(cè)量的標(biāo)準(zhǔn)(ASTM F84).

2.GB/T 1551-2009 《硅單晶電阻率測(cè)定方法》.

3.GB/T 1551-1995《硅、鍺單晶電阻率測(cè)定直流兩探針法》.

4.GB/T 1552-1995《硅、鍺單晶電阻率測(cè)定直流四探針法》.

詳細(xì)介紹

四探針方阻電阻測(cè)試儀雙電組合測(cè)試方法:

利用電流探針、電壓探針的變換,進(jìn)行兩次電測(cè)量,對(duì)數(shù)據(jù)進(jìn)行雙電測(cè)分析,解決樣品幾何尺寸、邊界效應(yīng)以及探針不等距和機(jī)械游移等因素對(duì)測(cè)量結(jié)果的影響,適用于斜置式四探針對(duì)于微區(qū)的測(cè)試。

四探針方阻電阻測(cè)試儀適用范圍

四端測(cè)試法是目前較*之測(cè)試方法,主要針對(duì)高精度要求之產(chǎn)品測(cè)試;本儀器廣泛用于生產(chǎn)企業(yè)、高等院校、科研部門,是檢驗(yàn)和分析導(dǎo)體材料和半導(dǎo)體材料質(zhì)量的一種重要的工具。

本儀器配置各類測(cè)量裝置可以測(cè)試不同材料之電導(dǎo)率。液晶顯示,無需人工計(jì)算,并帶有溫度補(bǔ)償功能,電導(dǎo)率單位自動(dòng)選擇,BEST-300C 材料電導(dǎo)率測(cè)試儀自動(dòng)測(cè)量并根據(jù)測(cè)試結(jié)果自動(dòng)轉(zhuǎn)換量程,無需人工多次和重復(fù)設(shè)置。選配:配備軟件可以由電腦操控,并保存和打印數(shù)據(jù),自動(dòng)生成圖表和報(bào)表。

本儀器采用4.3吋大液晶屏幕顯示,同時(shí)顯示電阻值、電阻率、方阻、電導(dǎo)率值、溫度、壓強(qiáng)值、單位自動(dòng)換算,配置不同的測(cè)試治具可以滿足不同材料的測(cè)試要求。測(cè)試治具可以根據(jù)產(chǎn)品及測(cè)試項(xiàng)目要求選購.

提供中文或英文兩種語言操作界面選擇,滿足國內(nèi)及國外客戶需求

電阻測(cè)量范圍: 
1、電阻率: 1×10-6~2×106Ω.cm、

電   阻:1×10-5~2×105Ω

電導(dǎo)率:5×10-6~1×108ms/cm

分辨率:  最小1μΩ
測(cè)量誤差±5%
2、測(cè)量電壓量程: 2mV   20mV  200mV 2V 
   測(cè)量精度±(0.1%讀數(shù))

分辨率:  0.1uV  1uV  10uV  100uV
3、⑴電流輸出:直流電流 0~1000mA 連續(xù)可調(diào),由交流電源供電。
   ⑵量程:1μA,10μA,100µA,1mA,10mA,1000mA, 
   ⑶誤差:±0.2%讀數(shù)±2字

4. 主機(jī)外形尺寸:330mm*350mm*110mm

5、顯示方式:液晶顯示6、電源:220±10% 50HZ/60HZ

7、標(biāo)配:測(cè)試平臺(tái)一套、主機(jī)一套、電源線數(shù)據(jù)線一套。

工作原理和計(jì)算公式測(cè)試原理如下:

直線四探針測(cè)試布局如圖8,相鄰針距分別為S1、S2、S3,根據(jù)物理基礎(chǔ)和電學(xué)原理:

當(dāng)電流通過1、4探針,2、3探針測(cè)試電壓時(shí)計(jì)算如下:

步驟及流程

1. 開啟電源,預(yù)熱5分鐘.

2. 裝配好探頭和測(cè)試平臺(tái).

3. 設(shè)定所需參數(shù).

4. 測(cè)量樣品

5. 導(dǎo)出數(shù)據(jù).

優(yōu)點(diǎn)描述:

1. 自動(dòng)量程

2. 雙電組合測(cè)試方法

3. 標(biāo)準(zhǔn)電阻校準(zhǔn)儀器

4. PC軟件運(yùn)行

5. 同時(shí)顯示電阻、電阻率、電導(dǎo)率數(shù)據(jù).

6. 可顯示5位有效數(shù)字.

7. 中、英文界面

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