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[供應(yīng)]BEST-300C-四探針電阻率測(cè)試儀(雙電)
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  • BEST-300C-四探針電阻率測(cè)試儀(雙電)
貨物所在地:
北京北京市
更新時(shí)間:
2025-01-22 21:00:25
有效期:
2025年1月22日 -- 2025年7月22日
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四探針電阻率測(cè)試儀(雙電)采用四端測(cè)量法適用于生產(chǎn)企業(yè)、高等院校、科研部門,實(shí)驗(yàn)室;是檢驗(yàn)和分析導(dǎo)體材料和半導(dǎo)體材料質(zhì)量的工具。

還可對(duì)電阻器體電阻、金屬導(dǎo)體的低、中值電阻以及開(kāi)關(guān)類接觸電阻進(jìn)行測(cè)量。配專用探頭

詳細(xì)介紹

四探針電阻率測(cè)試儀(雙電)可直接測(cè)量電極1和2之間表面間隙的電阻。這樣測(cè)得的電阻包括了電極1和2之間的表面電阻和這兩個(gè)電極間的體積電阻。

還可對(duì)電阻器體電阻、金屬導(dǎo)體的低、中值電阻以及開(kāi)關(guān)類接觸電阻進(jìn)行測(cè)量。配探頭

注:由于通過(guò)試樣內(nèi)層的電流的影響,表面電阻率的計(jì)算值與試樣和電極的尺寸有很大的關(guān)系,因此,為了測(cè)定時(shí)可進(jìn)行比較,推薦使用與圖2所示的電極裝置的尺寸相一致的試樣,其中d1= 50 mm, d2 = 60 mm, ds = 80 mm,

量程: 20.00mV

本儀器廣泛用于生產(chǎn)企業(yè)、高等院校、科研部門,是檢驗(yàn)和分析導(dǎo)體材料和半導(dǎo)體材料質(zhì)量的一種重要的工具。

還可對(duì)電阻器體電阻、金屬導(dǎo)體的低、中值電阻以及開(kāi)關(guān)類接觸電阻進(jìn)行測(cè)量。配探頭

然而,對(duì)于很寬范圍的環(huán)境條件和材料性能,當(dāng)電極尺寸合適時(shí), 體積電阻的影響可忽略不計(jì)。

薄片電阻率測(cè)量:

四探針電阻率測(cè)試儀(雙電)

配置不同測(cè)量裝置測(cè)試不同類型材料之電阻率.

當(dāng)薄片厚度與針距比 W/S>0.5 時(shí), 設(shè)定電阻率基本系數(shù) C,參照表 5.1,厚度修正 G<1.000,形狀位置修正 D<1.000,具體值 G(W/S)和 D(d/S)要查附表 1 和附表 2, 只讀結(jié)果。

PC軟件過(guò)程數(shù)據(jù)處理.

當(dāng)薄片厚度與針距比 W/S>0.5 時(shí), 設(shè)定電阻率基本系數(shù) C,參照表 5.1,厚度修正 G<1.000,形狀位置修正 D<1.000,具體值 G(W/S)和 D(d/S)要查附表 1 和附表 2, 只讀結(jié)果。

四端測(cè)試法是目前較*之測(cè)試方法,主要針對(duì)高精度要求之產(chǎn)品測(cè)試;本儀器廣泛用于生產(chǎn)企業(yè)、高等院校、科研部門,是檢驗(yàn)和分析導(dǎo)體材料和半導(dǎo)體材料質(zhì)量的一種重要的工具。

工作室內(nèi)應(yīng)無(wú)強(qiáng)電磁場(chǎng)干擾,不與高頻設(shè)備共用電源。

為測(cè)定表面電阻率,試樣的形狀不限,只要允許使用第三電極來(lái)抵消體積效應(yīng)引起的誤差即可。

測(cè)試類別的快捷選擇方式,方便了用戶同時(shí)測(cè)試多個(gè)參數(shù),提高測(cè)試效率。

電源

外形尺寸:

阻率: 1×10-6~2×106Ω.cm、

電   阻:1×10-5~2×105Ω

電導(dǎo)率:5×10-6~1×108ms/cm

分辨率:  小1μΩ
測(cè)量誤差±5%
測(cè)量電壓量程: 2mV   20mV  200mV 2V 
測(cè)量精度±(0.1%讀數(shù))

分辨率:  0.1uV  1uV  10uV  100uV
電流輸出:直流電流 0~1000mA 連續(xù)可調(diào),由交流電源供電。

量程:1μA,10μA,100μA,1mA,10mA,1000mA, 
誤差:±0.2%讀數(shù)±2字

主機(jī)外形尺寸:330mm*340mm*120mm

顯示方式:液晶顯示6、電源:220±10% 50HZ/60HZ

標(biāo)配:測(cè)試平臺(tái)一套、主機(jī)一套、電源線數(shù)據(jù)線一套。

PC軟件過(guò)程數(shù)據(jù)處理.

四端測(cè)量法.

外形尺寸:

四探針?lè)阶桦娮杪蕼y(cè)試儀是目前較*之測(cè)試方法,主要針對(duì)高精度要求之產(chǎn)品測(cè)試;

四探針測(cè)試探頭

化導(dǎo)致的電流變化與被測(cè)電流相比可忽略不計(jì)。

測(cè)試類別的快捷選擇方式,方便了用戶同時(shí)測(cè)試多個(gè)參數(shù),提高測(cè)試效率。

標(biāo)準(zhǔn)電阻校準(zhǔn)儀器.

結(jié)果。

也可以使用條形電極或具有合適尺寸的其他裝置。

也有球形鍍金銅合金探針探頭,可測(cè)柔性材料導(dǎo)電薄膜、金屬涂層或薄膜、陶瓷或玻璃等基底上導(dǎo)電膜(ITO 膜)或納米涂層等半導(dǎo)體材料的電阻率/方阻。換上四端子測(cè)試夾具

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