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當(dāng)前位置:> 供求商機(jī)> SR-M-反射顯微膜厚儀
一、產(chǎn)品特點(diǎn)
■ 光斑大小可進(jìn)行定制,小可達(dá)到10um;
■ 非接觸、非破壞測(cè)量;
■ 核心算法支持薄膜到厚膜、單層到多層薄膜分析;
■ 配置靈活、支持定制化;
■ 采用高強(qiáng)度鹵素光源,光源穩(wěn)定性好;
■ 采用光機(jī)電高度整合一體化設(shè)計(jì),體積小,操作簡(jiǎn)便;
■ 基于薄膜層上界面與下界面的反射光相干涉原理,多種算法可輕松解析單層到多層薄膜的結(jié)構(gòu)信息;
二、產(chǎn)品應(yīng)用
顯微膜厚儀可以廣泛應(yīng)用于各種介質(zhì)保護(hù)膜、有機(jī)薄膜、無(wú)機(jī)薄膜、金屬膜、涂層等薄膜測(cè)量,在科學(xué)研究和工藝控制上有著廣泛的用途。
三、技術(shù)參數(shù)
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