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當前位置：> 供求商機> SR-C-反射膜厚儀
一、產品特點
■ 光學薄膜測量解決方案；
■ 非接觸、非破壞測量；
■ 核心算法支持薄膜到厚膜、單層到多層薄膜分析；
■ 配置靈活、支持定制化
■ 采用高強度鹵素燈光源，光譜覆蓋可見光到近紅外范圍；
■ 采用光機電高度整合一體化設計，體積小，操作簡便；
■ 基于薄膜層上界面與下界面的反射光相干涉原理，輕松解析單層薄膜到多層；
■ 配置強大核心分析算法：FFT分析厚膜、曲線擬合分析法分析薄膜的物理參數(shù)信息；
二、產品應用
廣泛應用于各種介質保護膜、有機薄膜、無機薄膜、金屬膜、涂層等薄膜測量。
三、技術參數(shù)
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