天瑞Skyray Explorer 3000 X熒光元素分析儀

產(chǎn)品說明、技術參數(shù)及配置:

探險者EXPLORER便攜式X熒光有害元素分析儀是天瑞儀器結合10年手持式XRF技術研發(fā)經(jīng)驗，集中了光電子、微電子、半導體和計算機等多項技術，研制出具有自主知識產(chǎn)權的全新一代便攜式XRF產(chǎn)品。EXPLORER3000便攜式X熒光有害元素分析儀是天瑞儀器針對RoHS行業(yè)特別研發(fā)設計的便攜檢測分析儀。儀器引入數(shù)字多道技術，使檢出限更低，穩(wěn)定性更高，適用面更廣，性能媲美臺式機;小巧便攜的體積使檢測工作更簡單、更輕松。

在歐盟玩具指令頒布實施后，天瑞XRF系列產(chǎn)品迅速成為玩具生產(chǎn)商進行玩具安全檢測的有力保障。天瑞全新一代EXPLORER3000便攜式X熒光有害元素分析儀使用更方便、應用更廣泛?？捎糜陔娮釉c部件的材料生產(chǎn);對電子零部件、原材料供應商進行第三方評估;對包裝材料進行測試與驗證;對各類電池進行有害物質(zhì)測試與驗證;以及各種玩具、文具、兒童用品、禮品的測試;對大體積部件進行無阻擋、無限制空間測試;對精細部件精確定位，以排除干擾;對貴重物品進行無損檢測等等。

儀器應用領域優(yōu)勢:

超大樣品測試

當樣品體積太大，且不能切割取樣時，普通臺式儀器無法對其進行RoHS等有害元素的有效測試，此時EXPLORER3000則可大顯神通，直接對其表面進行測試，使用更方便快捷，大大提高了檢測效率。

玩具樣品測試

玩其樣品多種多樣，測試量大。重復取樣，實驗室測試時間過長。使用EXPLORER3000可進行現(xiàn)場測試，大大縮短了生產(chǎn)周期，節(jié)省了生產(chǎn)時間。

包裝材料測試

玩具包裝材料外形尺寸較大，樣式較多，外層油墨較多。使用普通臺式機無法快速、全面進行測試。EXPLORER3000可便攜操作，任意選取檢測點，操作更快更靈活，檢測結果更準更全面

廢舊電子電器回收

針對廢舊電子電器產(chǎn)品回收與利用行業(yè)，EXPLORER3000可以對大量電子廢料進行現(xiàn)場檢測與快速分類。

RoHS行業(yè)應用:

電子電器制造

包裝材料生產(chǎn)

廢舊電子電器回收

出入境檢驗檢疫

機械制造與加工

玩具生產(chǎn)

六大性能優(yōu)勢:

更便捷的操作

重量輕，體積小，人體工程學把手設計，配有專用儀器套，更易抓握，野外使用更方便。

270?？尚D(zhuǎn)5寸高清屏，支持多點操控，任何光線下都能清晰顯示。

密封式一體設計，具備防水防塵功能，可在惡劣環(huán)境下連續(xù)使用。

無需制備樣品，可直接對待測物表面進行測定。儀器既可便攜進行快速測試，也能使用測試座對樣品進行較長時間的精確測試。

性能

無損快速檢測，對準即測，一秒可報結果。性能堪比臺式機，檢測效果又快又準。

同時檢測九大重金屬有害元素:鉻、砷、鉛、溴、汞、鎘、硒、銻、鋇，并且可以根據(jù)客戶需求進行定制再增加元素。

超近光路設計，計數(shù)率提高5倍以上，大大縮短了測試時間。

更強勁的電力

選配超大27000mAh鋰電池，續(xù)航工作時間可達三天。并配備交流和車載充電器，保證電力供應。

內(nèi)置記憶電池，換電池不斷電。

配置

微型光管、Fast-SDD探測器、微型數(shù)字信號多道處理器及智能分析模塊四大核心技術的引入，使其具有臺式相近的測試精度。

采用超高主頻及大內(nèi)存，超大存儲空間，可海量存儲數(shù)據(jù)。全新自主研發(fā)的數(shù)字多道技術，保證每秒有效采譜計數(shù)可達500kcps。

準直濾波系統(tǒng)，其組合達到極限12組，滿足客戶的不同條件下的檢測需求。

800萬高清晰攝像頭，隨時觀察樣品測試位置，使測量更加精準。

更安全的防護

智能三色預警系統(tǒng):LED三色長燈帶設計，360度顯示。通電開機時綠燈亮，測試紅燈閃爍，設備故障黃色燈閃爍，儀器狀態(tài)，一目了然。

三重安全防護功能:

a:自動感應，沒有樣品時儀器不工作，無射線泄漏。

b:采用加厚防護測試壁，有效防止散射。

C:配送防護安全罩，防周邊輕基體散射。

安全聯(lián)動鎖裝置，當軟件無法控制關閉，輕輕一按，第一時間保護您的安全，守護最后關卡。

更智能的軟件

EXPLORER3000便攜式X熒光有害元素分析儀配有專門針對RoHS行業(yè)的專業(yè)應用軟件，具有智能化、高靈敏度、測試時間短、操作簡易等特點。

全新的智能軟件，一鍵智能操作，采用雙模設計(用戶模式和專家模式)。用戶模式一鍵測試樣品成分;專家模式可進行增加元素，增加特定曲線等深入分析操作。

內(nèi)置強度校正方法，校正幾何狀態(tài)不同和結構密度不均勻的樣品造成的偏差。

天瑞Skyray Explorer 3000 X熒光元素分析儀