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CS19010系列局部放電測試儀是一款適用于高壓隔離集成電路（如光耦、磁耦、隔離放大器、隔離式數(shù)字通信芯片）、半導(dǎo)體高壓開關(guān)（如IGBT、MOSFET），及高壓絕緣組件（如隔離基板）、低容值高壓電容器等器件局部放電和耐壓測試的綜合測量設(shè)備，可實(shí)現(xiàn)0.1kV~10kV范圍內(nèi)耐壓測試和局部放電測試。
CS19010系列局部放電測試儀采用試品串聯(lián)耦合測量模式，測試方法符合通用局放測量標(biāo)準(zhǔn)GB/T 7354-2018 （IEC60270：2000），同時(shí)也符合特定器件的局放測量標(biāo)準(zhǔn)，如光隔離器安全標(biāo)準(zhǔn)（IEC60747-5-5）、數(shù)字隔離器安全標(biāo)準(zhǔn)（IEC60747-17）、低電壓設(shè)備安全標(biāo)準(zhǔn)（IEC60664-1）、半導(dǎo)體開關(guān)組件標(biāo)準(zhǔn)（IEC 60747-15）等；具有自定義高壓輸出波形、多種測量條件合格判斷功能，用戶可根據(jù)需求柔性組合，實(shí)現(xiàn)0.01uA~1mA泄漏電流測量和1pC~200pC局部放電測量，可滿足大多數(shù)集成隔離器件和高絕緣材料的產(chǎn)品品質(zhì)測試需求。
CS19010系列局部放電測試儀的主要應(yīng)用領(lǐng)域：（1）工業(yè)生產(chǎn)，依據(jù)相關(guān)標(biāo)準(zhǔn)在高壓器件（組件）生產(chǎn)過程中進(jìn)行局部放電常規(guī)測試或現(xiàn)場診斷測試；（2）科學(xué)研究，對高壓絕緣材料進(jìn)行局部放電特性研究或絕緣劣化過程研究。
局部放電校準(zhǔn)器技術(shù)參數(shù)
