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“中國芯”任重道遠(yuǎn)，崛起之路你我同行
半導(dǎo)體對于經(jīng)濟(jì)競爭力和國家至關(guān)重要。半導(dǎo)體技術(shù)的創(chuàng)新是推動世界經(jīng)濟(jì)數(shù)字化，人工智能（AI）和5G通信的基礎(chǔ)。作為世界制造業(yè)大國、世界貿(mào)易大國、世界大經(jīng)濟(jì)體，中國在半導(dǎo)體芯片的研究和制造領(lǐng)域還有很大的發(fā)展空間。
近日，國家發(fā)改委、科技部、工信部、財(cái)政部等四部門聯(lián)合印發(fā)了《關(guān)于擴(kuò)大戰(zhàn)略性新興產(chǎn)業(yè)投資 培育壯大新增長點(diǎn)增長極的指導(dǎo)意見》，提出要“聚焦新能源裝備制造‘卡脖子’問題，加快IGBT、控制系統(tǒng)等核心技術(shù)部件研發(fā)”。ITECH響應(yīng)國家號召，不斷增加對于IC芯片、半導(dǎo)體激光器、IGBT，繼電器等分立器件、傳感器等測試技術(shù)的研發(fā)投入，并為國產(chǎn)芯片的制造提供配套的解決方案。
導(dǎo)體測試是生產(chǎn)流程中一個非常重要的環(huán)節(jié)，回顧ITECH服務(wù)于半導(dǎo)體測試的這些年，為用戶解決測試苦難，與行業(yè)共同進(jìn)步。
電學(xué)測試
靜態(tài)電流測試（SIDD），在一定電壓下讓IC處于無負(fù)載、無振蕩狀態(tài)，將電流表的一端接電源的正極，另一端接IC的VDD腳，電流表的讀數(shù)即為IC的靜態(tài)電流。
IT6400雙極性直流電源，解析度高達(dá)1nA，既可以作為供電電源，又可以測試靜態(tài)電流。
老化測試
半導(dǎo)體的老化測試過程基本上模擬運(yùn)行了芯片整個壽命，可以用來作為器件可靠性的檢測或作為生產(chǎn)窗口來發(fā)現(xiàn)器件的早期故障。傳統(tǒng)的方法是采用電阻進(jìn)行能耗放電，這一方面會消耗大量的電能，另一方面會大大增加輸配電設(shè)備的容量，同時釋放的熱量會增加空調(diào)的負(fù)擔(dān)。通常而言，負(fù)載具有負(fù)效率特性、影響了工作環(huán)境質(zhì)量和電力開銷。其中最大的問題就是電量的浪費(fèi)。比如，一個典型的100路800W的老化測試系統(tǒng)就要消耗超過80KW才能夠提供測試功能。
IT-M3300系列小功率回饋式直流電子負(fù)載很好的*了這一產(chǎn)品空白，既能模擬各種負(fù)載特性，又能將電能無污染的回饋電網(wǎng)，½U的體積內(nèi)可提供高達(dá)800W的功率吸收。
特性測試
IT-M3200高精度直流電源的電流最大可達(dá)10A，分辨率可達(dá)10nA，可以滿足用戶更多IC測試需求。另外， IT9100系列功率分析儀可代替電流表，來完成測試。
生產(chǎn)測試
在芯片測試中會使用直流電源對芯片進(jìn)行供電，在此類測試中需要大量小體積、高精度、可編程直流電源。近期，數(shù)百臺IT-M3120高精度可編程直流電源集成于測試臺為用戶完成其產(chǎn)線生產(chǎn)測試需求。
IT-M3100系列擁有擴(kuò)展輸出電流、電壓的功能?？梢愿鶕?jù)用戶不同要求的電流、電壓值，采用并聯(lián)、串聯(lián)的方式來實(shí)現(xiàn)。并聯(lián)運(yùn)行時，最多可并聯(lián)4臺。串聯(lián)運(yùn)行時，可連接2臺。透過串并聯(lián)功能可支持多種不同功率的待測物測試，并且使用戶的使用更為彈性，設(shè)備的使用率大幅提高。