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當(dāng)前位置:皕赫科學(xué)儀器(上海)有限公司>>光學(xué)儀器>> CHC-CHA-4HARRICK 光譜儀附件原位漫反射
參 考 價(jià) | 面議 |
產(chǎn)品型號(hào)CHC-CHA-4
品 牌Harrick
廠商性質(zhì)代理商
所 在 地上海市
更新時(shí)間:2024-12-12 15:50:40瀏覽次數(shù):402次
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漫反射光譜法是檢測(cè)粗糙材料表面變化的一種非常靈敏的方法。它對(duì)具有高比表面積的粉末特別有效。這使得漫反射對(duì)于多相催化、氣固相互作用、光化學(xué)反應(yīng)和氧化機(jī)制的研究非常寶貴。Harrick低溫反應(yīng)室非常適合在仔細(xì)變化的溫度和壓力下進(jìn)行此類研究。這些低溫反應(yīng)室允許在廣泛的控制溫度和壓力下進(jìn)行漫反射測(cè)量,并與用于FT-IR和UV-Vis漫反射光譜的漫反射配件一起使用。 設(shè)計(jì)用于高真空(133μPa或10-6托)至133 kPa(1 ktorr)和-150°C至600°C(真空條件下)的研究。
提供三個(gè)入口/出口,用于排空反應(yīng)池和引入氣體。
由耐化學(xué)腐蝕的316不銹鋼制成。
HARRICK 低溫紅外附件包括
反應(yīng)室
低壓加熱筒。
K型熱電偶。
樣品包裝工具和溢出托盤。
帶有兩個(gè)KBr窗口和一個(gè)玻璃觀察窗口的圓頂(FTIR配置)
帶有兩個(gè)SiO2窗口和一個(gè)玻璃觀察窗口的圓頂(UV-Vis-NIR配置)
HARRICK 光譜儀附件原位漫反射 搭配附件:
(1)漫反射裝置 DRP-XXX
(2)溫控儀ATK-024-6
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