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  　　sem掃描電鏡的分析室滿足了對(duì)元素(EDX，WDS)和晶體學(xué)(EBSD)樣品數(shù)據(jù)日益增長(zhǎng)的需求，該分析室支持多個(gè)EDX檢測(cè)器，以提高通量并消除陰影效應(yīng)。此外，分析室支持共面EDX / EBSD和平行光束WDS，以確保所有技術(shù)的佳定位。由于掃描電鏡的現(xiàn)場(chǎng)能力，即使在絕緣或高溫的樣品上也可以獲得可靠的分析結(jié)果。用于光子學(xué)，地球科學(xué)，陶瓷，玻璃和故障分析應(yīng)用的其他樣品信息來自*的可伸縮RGB陰極發(fā)光檢測(cè)器。掃描電鏡將廣泛的成像和分析模式與新型先進(jìn)的自動(dòng)化技術(shù)相結(jié)合，可提供同類產(chǎn)品中完整的解決方案。它是需要高分辨率，樣品靈活性和易于使用的操作員界面的工業(yè)研發(fā)，質(zhì)量控制和故障分析應(yīng)用的理想選擇。