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杭州光析科技有限公司
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光度計規(guī)格
  • 光度計規(guī)格

貨物所在地：浙江杭州市

更新時間：2024-12-19 21:00:07

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光度計規(guī)格
適合于亮度、照度和Flicker閃爍測量?；谖覀円延械某墒炱脚_，Asteria是專門為需要內置強大計算能力、易于產線集成和快速得到測試結果的產線應用開發(fā)的。

光度計規(guī)格

適合于亮度、照度和Flicker閃爍測量?；谖覀円延械某墒炱脚_，Asteria是專門為需要內置強大計算能力、易于產線集成和快速得到測試結果的產線應用開發(fā)的。

Asteria可以提供兩種配置：鏡頭配置可以用于測量亮度(cd/m2)和flicker。余弦校正探頭配置可以用于測量照度(lux)和flicker。

Asteria系列特點：

亮度或者照度測量，探測器響應匹配人眼響應曲線（CIE1931）

支持液晶行業(yè)(Contrast,JEITA,VESA)和燈具行業(yè)(percentage, Index)所有6種flicker計算方法.

所有計算儀器內部完成，包括JEITA，便于系統(tǒng)集成

得益于高速的采樣頻率和大的內存，可以同時測量高頻信號和低頻信號（比如1Hz）

支持外部觸發(fā)功能，適合產線應用

支持大部分的編程語言Labview / Labwindows / Visual Studio (C++, C#, VB)/ 等

USB和RS232通訊接口

光度計規(guī)格

測量參數

參數

范圍

準確性

重復性

分辨率

15bit   for X,Y and Z

>78dB


亮度(Y)

0.002cd/m2-15000cd/m2

積分時間1ms-5s之間

±4%測量值

Y:±0.2%   for Y  at 0.1cd/m2

Y:±0.1%   for Y at 1cd/m2

Y:±0.05%   for Y at 5cd/m2

Y:±0.03%   for Y at 150cd/m2

測量速度

4-10次/秒(0.1cd/m2);  10-20次/秒(1cd/m2);

20-100次/秒(>5cd/m2);

Flicker

(contrast   method)

1cd/m2或更高亮度

±2%  Flicker frequency:30Hz AC/DC 10% sine wave   @ 10Cd/m2

±1%  


Flicker

(Jeita   method)

1cd/m2或更高亮度


±2dB  Flicker frequency:30Hz AC/DC 10% sine wave   @ 10Cd/m2

±1dB


工作溫度

10-35℃








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