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　　便攜式重金屬分析儀采用XRF光譜技術(shù)，可以在定量的同時(shí)對(duì)物質(zhì)中的特殊元素進(jìn)行鑒別?？筛鶕?jù)X射線的發(fā)射波長(zhǎng)(λ)和能量(E)確定特定元素，而該元素的數(shù)量可由相應(yīng)射線的密度來(lái)確定。因此，XRF度普術(shù)可以測(cè)量出物質(zhì)的成分。
 

　　每個(gè)原子都有自己固定數(shù)目的電子(負(fù)電粒子)，它們圍繞核子運(yùn)行。它的電子量相當(dāng)于核子中的質(zhì)子(正電粒子)量。我們可以根據(jù)周期表上的原子數(shù)來(lái)知道質(zhì)子數(shù)。
 

　　每個(gè)原子的數(shù)目都對(duì)應(yīng)著固定的元素名稱(chēng)，比如鐵，元素的名字叫Fe，原子的數(shù)目是26。能色散X螢光和波長(zhǎng)色散X螢光光譜分析技術(shù)主要研究和應(yīng)用在最里層的三個(gè)電子軌道，即K、L、M,K軌道接近核子，每一個(gè)電子軌道對(duì)應(yīng)一個(gè)特定的能層。
 

　　當(dāng)便攜式重金屬分析儀工作時(shí)，X光發(fā)射器發(fā)出的高能量初級(jí)射線光子會(huì)撞擊樣品元素。這類(lèi)原始光子包含了足夠的能量，能使里層，即K層或L層的電子偏離軌道。此時(shí)原子變成了不穩(wěn)定的離子。因?yàn)殡娮颖灸艿貙で蠓€(wěn)定，外層的L或M電子就會(huì)進(jìn)入空間以彌補(bǔ)內(nèi)層。當(dāng)這些電子從外層進(jìn)入到內(nèi)層時(shí)，它們釋放能量，我們稱(chēng)之為二次X射線光子。
 

　　這個(gè)過(guò)程叫做螢光輻射。每一種元素的次級(jí)射線都有其特點(diǎn)。但是，X射線光子螢光輻射所產(chǎn)生的能量，是由電子在轉(zhuǎn)換過(guò)程中內(nèi)外層能量差異所決定的。舉例來(lái)說(shuō)，鐵原子Fe的能量Kα約為6.4電子伏。某一特定元素在某一時(shí)刻發(fā)出的X射線的數(shù)量或密度，可以用來(lái)測(cè)量該元素的數(shù)量。XRF能量分布的典型光譜顯示出不同能量下光子密度的分布。
 

　　便攜式重金屬分析儀應(yīng)用情況
 

　　基于X射線原理研制的便攜式重金屬分析儀，主要用于航天、鋼鐵、石化、電力、醫(yī)藥等行業(yè)金屬材料中元素成分的現(xiàn)場(chǎng)測(cè)定。歐潤(rùn)智能小編認(rèn)為在伴隨著世界經(jīng)濟(jì)崛起的工業(yè)和*事制造業(yè)中，快速識(shí)別成分是不可少的工具。