德國ROENTDEK檢測器MCP系列

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德國ROENTDEK檢測器MCP系列

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ROENTDEK檢測器兩個特異性制品組件鏈接roentdek MCP型探測器，即這dld和十六進制與高壓模塊（如供roentdek hv2 / 4）和與前端電子器件（例如roentdek費）繼續(xù)處理探測器信號檢索兩個小時和位置坐標(biāo)為detected顆粒。

該產(chǎn)品組件還可以包括法蘭安裝齒輪探測器，例如ft12tp100安裝dld40上dn100cf（icf153）法蘭。安裝齒輪圖紙在roentdek網(wǎng)站提供。

ROENTDEK檢測器產(chǎn)品規(guī)格：

信號輸出帶寬：約500兆赫

工作電壓：4千伏

輸入阻抗：陽極信號150歐姆

ROENTDEK光子探測器DLD40

ROENTDEK光子探測器DLD40

ROENTDEK光子探測器DLD40： 2-dim延遲線檢測器 微通道板（L / D 60:1,1.5mm厚（25μm孔），外徑50mm，電阻匹配在10％以內(nèi)）人字紋構(gòu)造，有效直徑> 42mm，質(zhì)量線性直徑40mm。檢測器尺寸：直徑95mm，深度30mm。檢測器的速率容差至少為1 MHz。

DLD80： 2-dim延遲線檢測器 微通道板（L / D 60:1,1.5mm厚（25μm孔），外徑87mm，電阻匹配在10％以內(nèi)），人字紋構(gòu)造，有效直徑> 75mm，質(zhì)量線直徑75mm。檢測器尺寸：直徑145 mm，深度30 mm。檢測器的速率容差至少為1MHz。

HEX75b：具有改善的多點容差（零死區(qū)時間）的2-dim延遲線檢測器，包括 微通道板（L / D 75：1,1mm厚（13μm 孔），87mm外徑，OAR 70％，電阻匹配在10％以內(nèi)），人字紋疊層配置，檢測器的有效直徑為75mm。檢測器尺寸：直徑196mm，深度30mm。

DLD120： 2-dim延遲線檢測器 微通道板（L / D 60:1,1.5mm厚（25μm孔），127mm外徑，電阻匹配在10％以內(nèi)），人字紋構(gòu)造，有效直徑120mm，質(zhì)量直徑115mm。檢測器尺寸：直徑196mm，深度30mm。檢測器的速率容差至少為1MHz。

DET40 / 75：粒子計數(shù)檢測器 微通道板（L / D 74：1,1mm厚，13微米孔徑，OAR 70％，成像等級，50 / 87mm外徑（有效> 40/75mm），匹配電阻在10％以內(nèi)，金屬（正時）陽極。無法蘭安裝的檢測器尺寸）：直徑66/106 mm，深度10 mm。計數(shù)率至少為1 MHz。

RS-DET40： CF100（ICF153）上的法蘭安裝的40 mm MCP堆疊（Chevron），帶電阻屏，用于空氣側(cè)讀出電極上的圖像充電信號拾取（模塊化，例如延遲線，楔形和帶狀，成像像素）。包括信號饋通和MCP定時拾?。ㄈ鏔T4TP）。

ROENTDEK光子探測器以外熱門的型號：

ROENTDEK光子探測器產(chǎn)品型號：DLD40、DLD40EP、DLD80、DLD75eT、HEX75b、f HEX75 / 40、HEX40o、HEX75o、HEX120o、DLD120、DLD150、DLD105、HEX100、DET40 / 75、RS-DET40、RS-DET75、DLD40X、DLD75X。

將普通光改變?yōu)槠窆膺M行鏡檢的方法，以鑒別某一物質(zhì)是單折射（各向同性）或雙折射性（各向異性）。雙折射性是晶體的基本特性。因此，偏光顯微鏡被廣泛地應(yīng)用在礦物、化學(xué)等領(lǐng)域，在生物學(xué)和植物學(xué)也有應(yīng)用。
偏光顯微是鑒定物質(zhì)細微結(jié)構(gòu)光學(xué)性質(zhì)的一種顯微鏡。凡具有雙折射性的物質(zhì)，在偏光顯微鏡下就能分辨的清楚，當(dāng)然這些物質(zhì)也可用染色法來進行觀察，但有些則不可能，而必須利用偏光顯微鏡。
偏光顯微鏡的特點，就是將普通光改變?yōu)槠窆膺M行鏡檢的方法，以鑒別某一物質(zhì)是單折射性（各向同性）或雙折射性（各向異性）。
雙折射性是晶體的基本特征。因此，偏光顯微鏡被廣泛地應(yīng)用在礦物、高分子、纖維、玻璃、半導(dǎo)體、化學(xué)等領(lǐng)域。在生物學(xué)中，很多結(jié)構(gòu)也具有雙折射性，這就需要利用偏光顯微鏡加以區(qū)分。在植物學(xué)方面，如鑒別纖維、染色體、紡錘絲、淀粉粒、細胞壁以及細胞質(zhì)與組織中是否含有晶體等。在植物病理上，病菌的入侵，常引起組織內(nèi)化學(xué)性質(zhì)的改變，可以偏光顯微術(shù)進行鑒別。將普通光改變?yōu)槠窆膺M行鏡檢的方法，以鑒別某一物質(zhì)是單折射（各向同性）或雙折射性（各向異性）。雙折射性是晶體的基本特性。因此，偏光顯微鏡被廣泛地應(yīng)用在礦物、化學(xué)等領(lǐng)域，在生物學(xué)和植物學(xué)也有應(yīng)用。
偏光顯微是鑒定物質(zhì)細微結(jié)構(gòu)光學(xué)性質(zhì)的一種顯微鏡。凡具有雙折射性的物質(zhì)，在偏光顯微鏡下就能分辨的清楚，當(dāng)然這些物質(zhì)也可用染色法來進行觀察，但有些則不可能，而必須利用偏光顯微鏡。
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雙折射性是晶體的基本特征。因此，偏光顯微鏡被廣泛地應(yīng)用在礦物、高分子、纖維、玻璃、半導(dǎo)體、化學(xué)等領(lǐng)域。在生物學(xué)中，很多結(jié)構(gòu)也具有雙折射性，這就需要利用偏光顯微鏡加以區(qū)分。在植物學(xué)方面，如鑒別纖維、染色體、紡錘絲、淀粉粒、細胞壁以及細胞質(zhì)與組織中是否含有晶體等。在植物病理上，病菌的入侵，常引起組織內(nèi)化學(xué)性質(zhì)的改變，可以偏光顯微術(shù)進行鑒別。將普通光改變?yōu)槠窆膺M行鏡檢的方法，以鑒別某一物質(zhì)是單折射（各向同性）或雙折射性（各向異性）。雙折射性是晶體的基本特性。因此，偏光顯微鏡被廣泛地應(yīng)用在礦物、化學(xué)等領(lǐng)域，在生物學(xué)和植物學(xué)也有應(yīng)用。
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雙折射性是晶體的基本特征。因此，偏光顯微鏡被廣泛地應(yīng)用在礦物、高分子、纖維、玻璃、半導(dǎo)體、化學(xué)等領(lǐng)域。在生物學(xué)中，很多結(jié)構(gòu)也具有雙折射性，這就需要利用偏光顯微鏡加以區(qū)分。在植物學(xué)方面，如鑒別纖維、染色體、紡錘絲、淀粉粒、細胞壁以及細胞質(zhì)與組織中是否含有晶體等。在植物病理上，病菌的入侵，常引起組織內(nèi)化學(xué)性質(zhì)的改變，可以偏光顯微術(shù)進行鑒別。