詳細(xì)介紹
X-RAY膜厚儀原理:X射線或粒子射線經(jīng)物質(zhì)照射后
由于吸收多余的能量而變成不穩(wěn)定的狀態(tài)。從不穩(wěn)定狀態(tài)要回到穩(wěn)定狀態(tài)
此物質(zhì)必需將多余的能量釋放出來,而此時(shí)是以熒光或光的形態(tài)被釋放出來。
熒光X射線鍍層厚度測量儀或成分分析儀的原理
就是測量這被釋放出來的熒光的能量及強(qiáng)度,來進(jìn)行定性和定量分析。
產(chǎn)地:韓國
H型測量樣品高10CM,長寬55cm
XRF-2020應(yīng)用:
![X-RAY膜厚儀](https://img65.chem17.com/1b082722e7f6039b869d902025578d795d09ef27cd0c32f576b74165f98b79ec7378be82133d4d04.jpg)
![X-RAY膜厚儀](https://img76.chem17.com/bba4d100edfc830e9c176dcd6d8a3b069b960db83f12b04a422009fc0ee4da58e7af3f00daf5de8a.jpg)
韓國XRF-2020三款機(jī)型均為全自動(dòng),自動(dòng)雷射對焦
韓國MicroP XRF-2020
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通過CCD鏡頭觀察快速無損測試鍍層膜厚
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