主界面點(diǎn)擊“測(cè)試”按鍵，進(jìn)入測(cè)試界面，如圖7.3所示。儀器將根據(jù)測(cè)試設(shè)置中設(shè)置的參數(shù)進(jìn)行測(cè)試。可以根據(jù)測(cè)試要求選擇使用離線測(cè)試和在線測(cè)試，根據(jù)測(cè)試標(biāo)準(zhǔn)要求選擇使用標(biāo)準(zhǔn)測(cè)試和自定義測(cè)試。

標(biāo)準(zhǔn)測(cè)試包括NAS1638標(biāo)準(zhǔn)、GJB420B標(biāo)準(zhǔn)、ISO4406標(biāo)準(zhǔn)及SAE4059E標(biāo)準(zhǔn)。四種標(biāo)準(zhǔn)測(cè)試的通道粒徑設(shè)置如下：

NAS1638標(biāo)準(zhǔn)：5-15um、15-25um、25-50um、50-100um、>100um；

GJB420B標(biāo)準(zhǔn)：>4um、>6um、>14um、>21um、>38um、>70um；

ISO4406標(biāo)準(zhǔn)：>4um、>6um、>14um；

SAE4059E標(biāo)準(zhǔn)：>4um、>6um、>14um、>21um、>38um、>70um。

自定義測(cè)試可以根據(jù)測(cè)試的要求設(shè)置通道數(shù)目和粒徑大小進(jìn)行測(cè)試（詳見(jiàn)設(shè)置）。