孔徑測量，可以用于檢定ASME X，XX，XXX級精度的環(huán)規(guī)，相當于可以檢定國內(nèi)二等環(huán)規(guī)。 通過一整套完善的量值傳遞機構(gòu)可以快速的找到環(huán)規(guī)的直徑拐點，這其中其大作用的是兩只消除了摩擦力影響的位移傳感器。

孔徑測量

這是一臺在很多校準實驗室采用的標定環(huán)規(guī)的計量設(shè)備，由于其*的設(shè)計和可靠的表現(xiàn)至今沒有被其他產(chǎn)品代替。可以用于檢定ASME X，XX，XXX級精度的環(huán)規(guī)，相當于可以檢定國內(nèi)二等環(huán)規(guī)。 通過一整套完善的量值傳遞機構(gòu)可以快速的找到環(huán)規(guī)的直徑拐點，這其中其大作用的是兩只消除了摩擦力影響的位移傳感器。孔徑測量這是一臺可以測量百萬分之內(nèi)外尺寸的儀器，同時可以用來測量一些高精度的盤類零件。

孔徑測量技術(shù)描述

• 測量范圍: 內(nèi)尺寸: 300mm，外尺寸：279mm

• 重復精度; ±0.025µm

• 測頭量程: ±40µm

• 示值誤差：0.25%量程

• 測頭材料：金剛石

• 重量:306kg

• 儀器高度：1422mm

• 工作臺尺寸：279mm x 406mm

• 占地尺寸：406mm x 508mm

• 數(shù)字輸出接口RS232C

• 電源：230V±10%   50-60Hz