分析含量范圍 |
0.1%-99.9% |
價(jià)格區(qū)間 |
10萬-30萬 |
能量分辨率 |
159或125eV |
行業(yè)專用類型 |
電子產(chǎn)品 |
儀器種類 |
臺(tái)式/落地式 |
應(yīng)用領(lǐng)域 |
環(huán)保,化工,電子 |
元素分析范圍 |
13(Al)-92(U) |
重復(fù)性 |
5% |
測(cè)量時(shí)間 |
1-120秒 |
可測(cè)層數(shù) |
多鍍層1-5層 |
平臺(tái)移動(dòng)范圍 |
200mm*200mm*5mm |
X射線鍍層膜厚儀是一種高精度、非接觸式的測(cè)量設(shè)備,主要用于測(cè)量金屬電鍍層的厚度。其工作原理基于X射線穿透物體時(shí)強(qiáng)度衰減與物體厚度之間的相關(guān)性。該設(shè)備能夠快速、準(zhǔn)確地測(cè)量單層、多層及合金組合物的厚度,并具備多種測(cè)量功能,適用于環(huán)保、化工、電子等多個(gè)領(lǐng)域。
X射線鍍層膜厚儀是一種用于精密測(cè)量金屬電鍍層厚度的設(shè)備。其工作原理基于X射線穿過薄膜后,會(huì)根據(jù)薄膜的材料和厚度發(fā)生不同程度的吸收。膜越厚,吸收的X射線越多;膜越薄,則吸收的X射線越少。通過測(cè)量通過薄膜后的X射線強(qiáng)度的變化,可以得到薄膜的厚度信息。
型 號(hào):iEDX-150WT
生 產(chǎn) 商:韓國 ISP 公司
特點(diǎn):該型儀器采用開槽式大平臺(tái)設(shè)計(jì),適合測(cè)試扁平狀大面積樣品,適合線路板及連接器行業(yè)的鍍層厚度管控。
(一)iEDX-150WT 鍍層膜厚儀X射線光譜儀產(chǎn)品優(yōu)勢(shì)
1. 鍍層檢測(cè),多鍍層檢測(cè)可達(dá)5層,精度及穩(wěn)定性高。
2. 平臺(tái)尺寸:620*525mm,樣品移動(dòng)距離可達(dá) 110*110*5mm。(固定臺(tái)可選)
3. 激光定位和自動(dòng)多點(diǎn)測(cè)量功能。
4. 可檢測(cè)固體、粉末狀態(tài)材料。
5. 運(yùn)行及維護(hù)成本低、無易損易耗品,對(duì)使用環(huán)境相對(duì)要求低。
6. 可進(jìn)行未知標(biāo)樣掃描、無標(biāo)樣定性,半定量分析。
7. 操作簡單、易學(xué)易懂、精準(zhǔn)無損、高品質(zhì)、高性能、高穩(wěn)定性,快速出檢測(cè)結(jié)果。
8. 可針對(duì)客戶個(gè)性化要求量身定做輔助分析配置硬件。
9. 軟件升級(jí)。
10. 無損檢測(cè),一次性購買標(biāo)樣可長期使用。
11. 使用安心無憂,售后服務(wù)響應(yīng)時(shí)間 24H 以內(nèi),提供*保姆式服務(wù)。
(二)iEDX-150WT 鍍層膜厚儀X射線光譜儀配置及技術(shù)指標(biāo)
1. X 射線管:高穩(wěn)定性 X 光光管,微焦點(diǎn) X 射線管、Mo (鉬) 靶
鈹窗口, 陽極焦斑尺寸 75um,油絕緣,氣冷式,輻射安全電子管屏蔽。
50kV,1mA。高壓和電流設(shè)定為應(yīng)用程序提供良好性能。
2. 探測(cè)器:SDD 探測(cè)器(可選Si-Pin)
能量分辨率:125±5eV(Si-Pin:159±5eV)
3. 濾光片/可選
初級(jí)濾光片:Al濾光片,自動(dòng)切換
7個(gè)準(zhǔn)直器:客戶可選準(zhǔn)直器尺寸或定制特殊尺寸準(zhǔn)直器。
(三)X射線鍍層測(cè)厚儀測(cè)量原理