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VIAVI Seeker HL泄漏檢測器         VIAVI Seeker HL泄漏檢測器          VIAVI Seeker HL泄漏檢測器

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導(dǎo)引頭D Lite是一種雙模雙頻家庭泄漏檢測器，可精確監(jiān)測所有數(shù)字系統(tǒng)或混合數(shù)字和模擬系統(tǒng)中的泄漏。導(dǎo)引頭D Lite在前端所microir PAT-W光譜儀是一種適用于近紅外（NIR）分析儀，用于按設(shè)計(jì)質(zhì)量（QbD）制造。該光譜儀是一個(gè)堅(jiān)固的、可擴(kuò)展的下一代系統(tǒng)，用于混合均勻性、含量均勻性、干燥損失、壓實(shí)等過程分析技術(shù)（PAT）應(yīng)用的實(shí)時(shí)過程監(jiān)測。可變?yōu)V波器（LVF）技術(shù)，PAT-W在工業(yè)過程監(jiān)控儀表中具有小的形式因子，是一種適合于實(shí)際應(yīng)用的設(shè)計(jì)。有數(shù)字系統(tǒng)或混合數(shù)字和模擬系統(tǒng)中的泄漏。導(dǎo)引頭D Lite在前端使用CT-4通道標(biāo)microir PAT-W光譜儀是一種適用于近紅外（NIR）分析儀，用于按設(shè)計(jì)質(zhì)量（QbD）制造。該光譜儀是一個(gè)堅(jiān)固的、可擴(kuò)展的下一代系統(tǒng)，用于混合均勻性、含量均勻性、干燥損失、壓實(shí)等過程分析技術(shù)（PAT）應(yīng)用的實(shí)時(shí)過程監(jiān)測?？勺?yōu)V波器（LVF）技術(shù)，PAT-W在工業(yè)過程監(jiān)控儀表中具有小的形式因子，是一種適合于實(shí)際應(yīng)用的設(shè)計(jì)。記器，或者在野外使用導(dǎo)引頭D Lite源發(fā)射機(jī)。