VeeMax II, 10Sc, 80Sc 和 Silver Gate Evolution反射附件

VeeMAX. II – 可變角單向反射率附件

適用于Sctrum 400/100/One/65 分光計

      VeeMAX. II是一款多功能鏡反射附件，能夠分析從薄膜和單分子層到較厚薄膜的各種樣品。只用旋轉(zhuǎn)一個控制器就能在30度到85度的范圍內(nèi)連續(xù)改變?nèi)肷浣恰?的光學設計使得該附件對于所有入射角都是校準的。VeeMAX. II內(nèi)置起偏器支座，這樣就可以在不影響吹掃的情況下選擇各種偏振角。

特色和優(yōu)勢

• 入射角可在30到80度范圍內(nèi)以一次增加一度的方式調(diào)節(jié)
• 提供備選IR起偏器用于單分子層分析和樣品方向研究
• 包括3個樣品遮罩，方便您定義樣品的小區(qū)域

VeeMAX II可變角鏡面 L1272240

KRS-5起偏器，適用于VeeMAX II L1272243

80Sc –掠入射鏡面

適用于400/100/One/65 分光計

80Sc.是利用鏡面反射測量較薄薄膜和單分子層薄膜的理想選擇。在測量超薄薄膜樣品時，特別是測量單分子層樣品時，我們推薦您使用一個起偏器。80Sc對入射光和出射光都配有起偏器支座。

特色和優(yōu)勢

• 鍍金反射光學器件為zui高質(zhì)量的通量掠入射角分析提供保障
• 可用于可選IR起偏器的雙偏振器支座
• 包括3個樣品遮罩，方便定義樣品上的小區(qū)域

KRS-5起偏器適用于80Sc L1272243

10Sc. 

適用于Sctrum 400/100/One/65分光計

10Sc.是對樣品反射率進行高質(zhì)量測量的*鏡面。10Sc可用于各種的反射面的近正態(tài)反射率測量，如測量包括軍事設備表面、反射光學儀器、防反射（AR）鍍層和其他反射和不反射材料表面。

特色和優(yōu)勢

• 樣品光源精確固定在10度
• 按照ASTM E1585-93標準測量玻璃反射率
• 包括3個樣品遮罩，方便定義樣品上的小區(qū)域

Silver Gate Evolution附件

適用于Sctrum 400/100/One/65 分光計

Silver Gate. Evolution單反射ATR系統(tǒng)只需很少或*不需要樣品準備就能夠分析固體、液體和糊劑樣品。該附件有ZnSe或Ge以及平晶片或內(nèi)嵌式晶片各種配置供您選擇。晶片為可以更換，根據(jù)不同的應用需求還可以另行訂購。每一個附件都包括一個夾橋，一個標準砧，一個壓片砧，若干吹掃濾管和一個揮發(fā)性物蓋

Silver Gate（帶平ZnSe晶片）L1272270

Silver Gate（帶平Ge晶片）L1272271

Silver Gate（帶內(nèi)嵌式ZnSe晶片）L1272272

Silver Gate（帶內(nèi)嵌式Ge晶片）L1272273

Silver Gate ZnSe平晶片L1272274

Silver Gate Ge平晶片L1272275

Silver Gate ZnSe內(nèi)嵌式晶片L1272276

Silver Gate Ge內(nèi)嵌式晶片L1272277