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化鎳厚度測(cè)試儀XD-1000性能優(yōu)勢(shì)

滿足各種不同厚度樣品以及不規(guī)則表面樣品的測(cè)試需求
φ0.1mm的小孔準(zhǔn)直器可以滿足微小測(cè)試點(diǎn)的需求
高精度移動(dòng)平臺(tái)可精確定位測(cè)試點(diǎn)，重復(fù)定位精度小于0.005mm
采用高度定位激光，可自動(dòng)定位測(cè)試高度
定位激光確定定位光斑，確保測(cè)試點(diǎn)與光斑對(duì)齊
鼠標(biāo)可控制移動(dòng)平臺(tái)，鼠標(biāo)點(diǎn)擊的位置就是被測(cè)點(diǎn)
高分辨率探頭使分析結(jié)果更加精準(zhǔn)
良好的射線屏蔽作用
測(cè)試口高度敏感性傳感器保護(hù)

化鎳厚度測(cè)試儀XD-1000技術(shù)指標(biāo)

元素分析范圍：硫（S）～ 鈾（U）
同時(shí)檢測(cè)元素：*多24個(gè)元素，5層鍍層
檢出限：可達(dá)2ppm，*薄可測(cè)試0.005μm
分析含量：2ppm～99.9%
鍍層厚度：50μm以內(nèi)（每種材料有所不同）
任意多個(gè)可選擇的分析和識(shí)別模型
相互獨(dú)立的基體效應(yīng)校正模型
多變量非線性回收程序
重復(fù)性：可達(dá)0.1%
穩(wěn)定性：可達(dá)0.1%
操作環(huán)境溫度：15℃～30℃
電源：交流220V±5V, 建議配置交流凈化穩(wěn)壓電源
外觀尺寸： 576（W）×495（D）×545（H）mm
重量：90kg

儀器配置

開(kāi)放式樣品腔
精密二維移動(dòng)樣品平臺(tái)，探測(cè)器和X光管上下可動(dòng)，實(shí)現(xiàn)三維移動(dòng)
雙激光定位裝置
鉛玻璃屏蔽罩
Si-Pin探測(cè)器
信號(hào)檢測(cè)電子電路
高低壓電源
高度傳感器
保護(hù)傳感器
計(jì)算機(jī)及噴墨打印機(jī)

• 
  

• 儀器專業(yè)從事化鎳厚度測(cè)試儀（鍍層/涂層/氧化膜等）測(cè)厚儀器的銷售業(yè)務(wù)及維修服務(wù)，化鎳厚度測(cè)試儀俗稱鍍層測(cè)厚儀，膜厚測(cè)試儀，膜厚儀等等，化鎳厚度測(cè)試儀 主要檢測(cè)金屬鍍層膜厚厚度的儀器，保證鍍層厚度品質(zhì)，減少電鍍成本浪費(fèi)。此儀器特別適合于小的鍍層測(cè)量，如端子，連接器，細(xì)小的金線，在五金，汽車配件．線路板．衛(wèi)浴，等行業(yè)．也有杰出的表現(xiàn)．可測(cè)量．單層．雙層，合金層等多種鍍層

  金屬和塑膠的混合樣品應(yīng)如何測(cè)試？

   

  答： 盡可能拆分到均勻介質(zhì),既金屬和非金屬分開(kāi)放在不同工作曲線測(cè)量.

• 與SGS對(duì)比差異的產(chǎn)生？答： 因?yàn)閄RF是屬于物理方法，是表面測(cè)試儀器.而SGS是采用化學(xué)方法,使用試劑溶解測(cè)試.從測(cè)試原理來(lái)講，這兩種方法是存在差異的，另外采用的檢測(cè)設(shè)備是不同的，所以檢測(cè)結(jié)果有可能會(huì)產(chǎn)生差異。尤其是一些電鍍?cè)骷筒痪鶆虿馁|(zhì)更為明顯。SGS也使用制樣來(lái)消除材料不均勻而造成的測(cè)量誤差。

• 樣品不能保證測(cè)試所需的平面光滑，應(yīng)如何測(cè)試？答： 樣品的幾何形狀對(duì)測(cè)試結(jié)果可能會(huì)有影響，一般選擇比較平整的部分進(jìn)行測(cè)試，在軟件的算法上作了一定的處理，盡可能的降低了樣品幾何形狀不規(guī)則造成的負(fù)面影響。

• 不同曲線中峰的選擇和邊界選??？答： 工作曲線的建立和感興趣元素邊界的劃分相對(duì)比較復(fù)雜，對(duì)操作者的專業(yè)知識(shí)要求較高，需要經(jīng)過(guò)長(zhǎng)期系統(tǒng)的培訓(xùn)才能掌握，并且曲線中的峰邊界相對(duì)比較固定，選定后不能隨意改動(dòng)，為保證儀器數(shù)據(jù)的準(zhǔn)確性和安全性，一般由我司技術(shù)人員制作和修改。

• 能量值相近，疊加峰的問(wèn)題如何解決？

  答：  主要依靠對(duì)各個(gè)元素譜型的熟悉來(lái)分析，一般來(lái)說(shuō)S到Sn之間的元素受激發(fā)釋放出的為K線，就是一個(gè)比較高的主α峰后邊帶一個(gè)比較低的β峰。Sn以后的元素受激發(fā)釋放出的L線，一般有兩個(gè)等高或者高度相當(dāng)?shù)姆逋瑫r(shí)出現(xiàn)，在一個(gè)峰被疊加峰影響后可其它峰譜是否出現(xiàn)，沒(méi)有出現(xiàn)則說(shuō)明為疊加峰影響，反之就不是。處理辦法參考問(wèn)題8答案。

• 參數(shù)規(guī)格

• 1   分析元素范圍：K-U

•  

  2 化鎳厚度測(cè)試儀 同時(shí)可分析多達(dá)5層以上鍍層

  3   分析厚度檢出限達(dá)0.005μm

  4   多次測(cè)量重復(fù)性可達(dá)0.01μm

  5   定位精度：0.1mm

  5   測(cè)量時(shí)間：30s-300s

  6   計(jì)數(shù)率：1300-8000cps

  7   Z軸升降范圍：0-140mm

  8   X/Y平臺(tái)可移動(dòng)行程：50mm(W)×50mm(D)

  性能特點(diǎn)

  1 滿足各種不同厚度樣品以及不規(guī)則表面樣品的測(cè)試需求

  2 φ0.1mm的小孔準(zhǔn)直器可以滿足微小測(cè)試點(diǎn)的需求

  安裝要求：

  1   環(huán)境溫度要求：15℃-30℃

  2   環(huán)境相對(duì)濕度：<70%

  3   工作電源：交流220±5V

  4   周圍不能有強(qiáng)電磁干擾。