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目錄:深圳喬邦儀器有限公司>>電鍍鍍層膜厚分析儀>> 鍍層厚度熒光檢測儀

鍍層厚度熒光檢測儀
  • 鍍層厚度熒光檢測儀
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參考價(jià) 面議
具體成交價(jià)以合同協(xié)議為準(zhǔn)
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具體成交價(jià)以合同協(xié)議為準(zhǔn)
  • 品牌 其他品牌
  • 型號
  • 廠商性質(zhì) 經(jīng)銷商
  • 所在地 深圳市
屬性

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更新時(shí)間:2024-04-27 17:17:17瀏覽次數(shù):809評價(jià)

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產(chǎn)地類別 國產(chǎn) 價(jià)格區(qū)間 面議
應(yīng)用領(lǐng)域 醫(yī)療衛(wèi)生,化工,生物產(chǎn)業(yè),電子,印刷包裝
鍍層厚度熒光檢測儀,儀器采用能量色散X熒光FpThick軟件,*FP法和EC法等多種方法嵌入的人性化應(yīng)用軟件,具有高靈敏度、測試時(shí)間短、一鍵智能化操作。譜圖區(qū)域采用動態(tài)模式,測試時(shí)元素觀察更直觀。
軟件具有多種測試模式設(shè)置和無限數(shù)目模式自由添加,內(nèi)置強(qiáng)度校正方法,可校正幾何狀態(tài)不同和結(jié)構(gòu)密度不均勻的樣品造成的偏差。

鍍層厚度熒光檢測儀參數(shù)規(guī)格

 

1   分析元素范圍:S-U2   同時(shí)可分析多達(dá)5層以上鍍層3   分析厚度檢出限達(dá)0.005μm4   多次測量重復(fù)性可達(dá)0.01μm5   定位精度:0.1mm6   測量時(shí)間:30s-300s7   計(jì)數(shù)率:1300-8000cps8   Z軸升降范圍:0-140mm9   X/Y平臺可移動行程:50mm(W)×50mm(D) 

鍍層厚度熒光檢測儀性能特點(diǎn)

 

1.滿足各種不同厚度樣品以及不規(guī)則表面樣品的測試需求2.φ0.1mm的小孔準(zhǔn)直器可以滿足微小測試點(diǎn)的需求,可以對同一鍍件不同部位測試厚度3.高精度移動平臺可定位測試點(diǎn),重復(fù)定位精度小于0.005mm4.采用高度定位激光,可自動定位測試高度5.定位激光確定定位光斑,確保測試點(diǎn)與光斑對齊6.鼠標(biāo)可控制移動平臺,鼠標(biāo)點(diǎn)擊的位置就是被測點(diǎn)7.高分辨率探頭使分析結(jié)果更加精準(zhǔn)8.良好的射線屏蔽作用9.測試口高度敏感性傳感器保護(hù) 

測試實(shí)例

 

鍍鎳器件是比較常見的電鍍器件,其鎳鍍層在保護(hù)銅基體免受氧化同時(shí)還能起到美觀的作用。這里以測試客戶的一件銅鍍鎳樣品為例說明此款儀器的測試效果。
以下使用Thick800A儀器對銅鍍鎳樣品實(shí)際測試Ni層厚度,七次的結(jié)果其標(biāo)準(zhǔn)偏差和相對標(biāo)準(zhǔn)偏差。且可在樣品上進(jìn)行定位測試,其測試位置如圖。 結(jié)論

實(shí)驗(yàn)表明,使用Thick800A 儀器對鍍件膜厚測試,結(jié)果準(zhǔn)確度高,速度快(幾十秒),其測試效果*可以和顯微鏡測試法媲美。

 

鍍層厚度測試方法一般有以下幾種方法:1.光學(xué)顯微鏡法。適用標(biāo)準(zhǔn)為:GB/T6462-20052.X-ray法(X射線法)。適用標(biāo)準(zhǔn)為:GB/T16921-2005

3.庫侖法,此法一般為仲裁方法。適用標(biāo)準(zhǔn)為:GB/T4955-2005

儀器配置

                                            

1    硬件:主機(jī)壹臺,含下列主要部件: ①X光管                    ②半導(dǎo)體探測器③放大電路                  ④高精度樣品移動平臺⑤高清晰攝像頭             ⑥高壓系統(tǒng)⑦上照、開放式樣品腔        ⑧雙激光定位⑨玻璃屏蔽罩2   軟件:天瑞X射線rel="nofollow" 熒光光譜儀FpThick分析軟件V1.03   計(jì)算機(jī)、打印機(jī)各一臺計(jì)算機(jī)(品牌,P4,液晶顯示屏)、打印機(jī)(佳能,彩色噴墨打印機(jī))4   資料:使用說明書(包括軟件操作說明書和硬件使用說明書)、出廠檢驗(yàn)合格證明、裝箱單、保修單及其它應(yīng)提供資料各一份。5   標(biāo)準(zhǔn)附件準(zhǔn)直孔:0.1X1.0mm(已內(nèi)置于儀器中)

 

測量標(biāo)準(zhǔn)

 

1.國標(biāo)GB/T 16921-2005/ISO 3497:2000 金屬覆蓋層 覆蓋層厚度測量X射線光譜方法2.美國標(biāo)準(zhǔn)A754/A754M-08Coating Weight(mass)of Metallic Coatings on steel by X-Ray Fluorescence

 

應(yīng)用行業(yè)

 

1.電子半導(dǎo)體行業(yè)接插件和觸點(diǎn)的厚度測量2.印刷線路板行業(yè)功能鍍層厚度測量3.貴金屬首飾手表行業(yè)鍍層厚度測量

4.五金電鍍行業(yè)各種防腐性、裝飾性及功能鍍層厚度測量

 

分析原理

 

儀器采用XRF光譜分析技術(shù),X光管產(chǎn)生的X射線打到被測樣品時(shí)可以擊出原子的內(nèi)層電子,出現(xiàn)殼層空穴,當(dāng)外層電子從高軌道躍遷到低能軌道來填充軌道空穴時(shí),就會產(chǎn)生特征X射線。X射線探測器將樣品元素的X射線的特征譜線的光信號轉(zhuǎn)換成易于測量的電信號來得到待測元素的特征信息。


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