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產(chǎn)品簡介
泰克參數(shù)分析儀使用 4200A-SCS 加快半導體設備、材料和工藝開發(fā)的探索、可靠性和故障分析研究。 業(yè)內(nèi)性能參數(shù)分析儀，提供同步電流-電壓 （I-V）、電容-電壓 （C-V） 和超快脈沖 I-V 測量。
詳細介紹
泰克參數(shù)分析儀
大膽發(fā)現(xiàn)從未如此容易。 4200A-SCS 參數(shù)分析儀可將檢定和測試設置的復雜程度降低高達 50%，提供清晰且不折不扣的測量和分析功能。 另外，嵌入式測量專業(yè)知識（業(yè)界）可提供測試指南并讓您對結(jié)果充滿信心。
特點
- 內(nèi)置測量視頻采用英語、中文、日語和韓語
- 使用數(shù)百個用戶可修改應用測試開始您的測試
- 自動實時參數(shù)提取、數(shù)據(jù)繪圖、算數(shù)函數(shù)
測量、 切換、 重復。
4200A-CVIV 多通道切換模塊自動在 I-V 和 C-V 測量之間切換，無需重新布線或抬起探頭端部。 與競爭產(chǎn)品不同，四通道 4200A-CVIV 顯示器提供本地可視查看，可快速完成測試設置，并在出現(xiàn)意想不到的結(jié)果時輕松排除故障。
特點
- 無需重新布線即可將 C-V 測量移動到任何設備終端
- 用戶可配置低電流功能
- 個性化輸出通道名稱
- 查看實時測試狀態(tài)
泰克參數(shù)分析儀檢定、 自定義、 大化。
簡單地說，4200A-SCS 可以*自定義且全面升級，您可以對半導體設備、新材料、有源/無源組件、晶片級可靠性、故障分析、電化學或幾乎任何類型的樣本執(zhí)行電氣檢定和評估。
特點
- NBTI/PBTI 測試
- 隨機電報噪聲
- 非易失內(nèi)存設備
- 穩(wěn)壓器應用測試
帶分析探測器和低溫控制器的集成解決方案。
4200A-SCS 參數(shù)分析儀支持許多手動和半自動晶片探測器和低溫控制器，包括 Cascade MicroTech、Lucas Labs/Signatone、MicroManipulator、Wentworth Laboratories、LakeShore Model 336 低溫控制器。
特點
- “點擊”測試定序
- “手動”探測器模式測試探測器功能
- 假探測器模式無需移除命令即可實現(xiàn)調(diào)試
降低成本并保護您的投資
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了解詳情
| 產(chǎn)品技術資料 | 型號 | 說明 | 價格 |
|---|---|---|---|
| 查看規(guī)格書 | 4200A-SCS-PK1 高分辨率 IV 套件 | 210V/100mA，0.1 fA 分辨率 對于兩端和三端設備，MOSFET、CMOS 檢定套件 4200A-SCS-PK1 包括：
| 索取報價 |
| 查看規(guī)格書 | 4200A-SCS-PK2 高分辨率 IV 和 CV 套件 | 210V/100mA，0.1 fA 分辨率，1kHz - 10MHz 對于高 K 電解質(zhì)，深亞微米 CMOS 檢定套件 4200A-SCS-PK2 包括：
| 索取報價 |
| 查看規(guī)格書 | 4200A-SCS-PK3 高分辨率和高功率 IV 和 CV 套件 | 210V/1A，0.1 fA 分辨率，1kHz - 10MHz 對于功率設備、高 K 電解質(zhì)，深亞微米 CMOS 設備檢定套件 4200A-SCS-PK3 包括：
| 索取報價 |
| 查看規(guī)格書 | 4200-BTI-A 超快 NBTI/PBTI 套件 | 用于使用* CMOS 技術套件進行復雜的 NBTI 和 PBTI 測量 4200-BTI-A 包括：
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