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多功能數(shù)字式四探針測(cè)試儀

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  • 多功能數(shù)字式四探針測(cè)試儀
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參考價(jià) 面議
具體成交價(jià)以合同協(xié)議為準(zhǔn)
  • 型號(hào) SZ-ST2258A
  • 品牌 TSI/美國(guó)
  • 廠商性質(zhì) 生產(chǎn)商
  • 所在地 濟(jì)寧市
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更新時(shí)間:2018-12-28 10:41:16瀏覽次數(shù):1018

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SZ-ST2258A型多功能數(shù)字式四探針測(cè)試儀是運(yùn)用四探針測(cè)量原理測(cè)試電阻率/方阻的多用途綜合測(cè)量?jī)x器。該儀器設(shè)計(jì)符合GB/T 1551-2009 《硅單晶電阻率測(cè)定方法》、GB/T 1551-1995《硅、鍺單晶電阻率測(cè)定直流兩探針?lè)ā贰B/T 1552-1995《硅、鍺單晶電阻率測(cè)定直流四探針?lè)ā凡⒖济绹?guó) A.S.T.M 標(biāo)準(zhǔn)。

詳細(xì)介紹

SZ-ST2258A型多功能數(shù)字式四探針測(cè)試儀是運(yùn)用四探針測(cè)量原理測(cè)試電阻率/方阻的多用途綜合測(cè)量?jī)x器。該儀器設(shè)計(jì)符合GB/T 1551-2009 《硅單晶電阻率測(cè)定方法》、GB/T 1551-1995《硅、鍺單晶電阻率測(cè)定直流兩探針?lè)ā贰B/T 1552-1995《硅、鍺單晶電阻率測(cè)定直流四探針?lè)ā凡⒖济绹?guó) A.S.T.M 標(biāo)準(zhǔn)。

 

SZ-ST2258A型多功能數(shù)字式四探針測(cè)試儀特點(diǎn):

主機(jī)主要由精密恒流源、高分辨率ADC、嵌入式單片機(jī)系統(tǒng)組成。儀器所有參數(shù)設(shè)定、功能轉(zhuǎn)換全部采用數(shù)字化鍵盤(pán)輸入;具有零位、滿(mǎn)度自校功能;電壓電流全自動(dòng)轉(zhuǎn)換量程;測(cè)試結(jié)果由數(shù)字表頭直接顯示。本測(cè)試儀特贈(zèng)設(shè)測(cè)試結(jié)果分類(lèi)功能,最大分類(lèi)10類(lèi)。

儀器具有測(cè)量精度高、靈敏度高、穩(wěn)定性好、智能化程度高、結(jié)構(gòu)緊湊、使用簡(jiǎn)便等特點(diǎn)。

儀器適用于半導(dǎo)體材料廠器件廠、科研單位、高等院校對(duì)導(dǎo)體、半導(dǎo)體、類(lèi)半導(dǎo)體材料的導(dǎo)電性能的測(cè)試。

 

探頭選配:

根據(jù)不同材料特性需要,探頭可有多款選配。有高耐磨碳化鎢探針探頭,以測(cè)試硅類(lèi)半導(dǎo)體、金屬、導(dǎo)電塑料類(lèi)等硬質(zhì)材料的電阻率/方阻;也有球形鍍金銅合金探針探頭,可測(cè)柔性材料導(dǎo)電薄膜、金屬涂層或薄膜、陶瓷或玻璃等基底上導(dǎo)電膜(ITO膜)或納米涂層等半導(dǎo)體材料的電阻率/方阻。換上四端子測(cè)試夾具,還可對(duì)電阻器體電阻、金屬導(dǎo)體的低、中值電阻以及開(kāi)關(guān)類(lèi)接觸電阻進(jìn)行測(cè)量。配探頭,也可測(cè)試電池極片等箔上涂層電阻率方阻。

 

測(cè)試臺(tái)選配:一般四探針?lè)y(cè)試電阻率/方阻配SZT-A或SZT-B或SZT-C或SZT-F型測(cè)試臺(tái)。二探針?lè)y(cè)試電阻率測(cè)試選SZT-K型測(cè)試臺(tái),也可選配SZT-D型測(cè)試臺(tái)以測(cè)試半導(dǎo)體粉末電阻率,選配SZT-G型測(cè)試臺(tái)測(cè)試橡塑材料電阻率。

 配ST2553-F01探頭測(cè)硅片

       

配ST2558B-F01測(cè)ITO膜

       

基本技術(shù)參數(shù):

1. 測(cè)量范圍、分辨率(可向下拓展1~3個(gè)數(shù)量級(jí),括號(hào)內(nèi)為向下拓展3個(gè)數(shù)量級(jí))

     電    阻:1.0×10-3 ~ 200.0×105  Ω,    分辨率0.1×10-3 ~ 0.1×10 Ω

                (1.0×10-6 ~ 200.0×102  Ω,    分辨率0.1×10-6 ~ 0.1×102 Ω)

     電 阻 率:1.0×10-3 ~ 200.0×103 Ω-cm  分辨率0.1×10-3 ~ 0.1×10 Ω-cm

                (1.0×10-6 ~ 200.0×101 Ω-cm  分辨率0.1×10-6 ~ 0.1×10 Ω-cm)

     方塊電阻:5.0×10-3 ~ 100.0×10Ω/□  分辨率0.5×10-3 ~ 0.1×103  Ω/□

                (5.0×10-6 ~ 100.0×10Ω/□  分辨率0.5×10-6 ~ 0.1×101  Ω/□)

2. 材料尺寸(由選配測(cè)試臺(tái)和測(cè)試方式?jīng)Q定)

   直    徑: SZT-A圓測(cè)試臺(tái)直接測(cè)試方式 Φ15~130mm,手持方式不限

   SZT-B/C/F方測(cè)試臺(tái)直接測(cè)試方式180mm×180mm,手持方式不限.

   長(zhǎng)(高)度:  測(cè)試臺(tái)直接測(cè)試方式 H≤100mm,    手持方式不限.

   測(cè)量方位:  軸向、徑向均可

3. 量程劃分及誤差等級(jí)

滿(mǎn)度顯示

200.0

20.00

2.000

200.0

20.00

2.000

200.0

常規(guī)量程

kΩ-cm/□

Ω-cm/□

mΩ-cm/□

最大拓展量程

Ω-cm/□

mΩ-cm/□

μΩ-cm/□

基本誤差

±2%FSB

±4LSB

±1.5%FSB

±4LSB

±0.5%FSB±2LSB

±0.5%FSB

±4LSB

4) 工作電源:220V±10%, f=50Hz±4%,PW≤5W

5) 外形尺寸:W×H×L=215mm×85mm×190mm

      凈   重:≤1.5~2.0kg

 

儀器成套組成:由主機(jī)、選配的四探針探頭、測(cè)試臺(tái)等部分組成。

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