日本奧林巴斯BX53M科研級正置金相顯微鏡是新一代工業(yè)金相顯微鏡，為廣泛的材料學和工業(yè)應用提供了多樣化的解決方案，根據工業(yè)和材料學的不同應用，可以組合成反射顯微鏡、透反射顯微鏡、紅外顯微鏡、偏光顯微鏡等多種應用的顯微鏡。

BX53M系列采用了模塊化設計，為廣泛的材料學和工業(yè)應用提供了多樣化的解決方案。BX53M改進了與奧林巴斯Stream軟件的集成性，從而為常規(guī)顯微鏡檢查和數碼成像用戶提供了從觀察到報告創(chuàng)建的無縫工作流程。BX53M根據工業(yè)和材料學的不用應用，可以組合成反射顯微鏡、透反射顯微鏡、紅外顯微鏡、偏光顯微鏡等多種應用的顯微鏡。

日本奧林巴斯BX53M科研級正置金相顯微鏡產品特點：

直觀的顯微鏡控制舒適而便于使用

BX53M科研級正置顯微鏡通過其優(yōu)良的設計和便捷的控制功能，簡化了復雜的顯微檢查任務。用戶不需要長時間的培訓即可掌握顯微鏡的大多數功能。日本奧林巴斯顯微鏡BX53M方便而舒適的操作還改善了圖像的再現性，極大程度減少了人為錯誤。

友好的用戶設計

照明器的設計極大程度減少了顯微鏡操作過程中所必須的復雜操作。照明器前端的旋鈕使用戶能夠輕松地改變觀察方法。操作者可以在反射光顯微鏡檢查時快速切換常用的觀察方法，比如從明場觀察到暗場觀察，到偏光觀察，以隨時改變不同類型的分析。此外，可以旋轉檢偏鏡來實現簡單偏光觀察的調節(jié)。

精密光學元件

物鏡和滑塊的附件。選擇所需的物鏡數量和類型；以及是否帶滑塊附件。

豐富的功能及擴展附件

BX53M顯微鏡保留了常規(guī)顯微鏡檢查的傳統(tǒng)襯度對比法，比如明場、暗場、偏光和微分干涉。隨著新材料的發(fā)展，現在可以使用良好的顯微鏡檢查技術來進行更精確和更可靠的檢查，從而解決了以往很多使用傳統(tǒng)襯度對比法檢查時遇到的缺陷檢測方面的困難。