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產(chǎn)品簡(jiǎn)介
詳細(xì)介紹
通用型鹵素檢漏儀 H25-IR PRO (美國(guó)巴克拉克)
【巴克拉克公司】
ZUI早生產(chǎn)檢漏儀的廠家。美國(guó)巴克拉克公司（BACHARACH INC）是檢漏儀和氣體分析解決方案的 ----制造商和供應(yīng)商，公司成立于1909年，擁有多項(xiàng)*Z L 。產(chǎn)品廣泛服務(wù)于*工業(yè)客戶。
【產(chǎn)品簡(jiǎn)介】
H25-IR PRO是一種跨時(shí)代的新型紅外線檢漏儀，專門適合于冰箱，冷柜的冷媒泄漏檢測(cè)，可以檢測(cè)R600a，R290和R744(CO2)?？梢杂糜谡页霾?zhǔn)確計(jì)量泄漏值，同時(shí)在系統(tǒng)中存儲(chǔ)泄漏的日志記錄及統(tǒng)計(jì)數(shù)據(jù)，以確保精確且可靠的操作。
H25-IR PRO型檢漏儀提升了工業(yè)檢測(cè)的更高性能的檢測(cè)技術(shù)。*ZL：ALQ技術(shù)（無(wú)漏孔自校準(zhǔn)技術(shù)），時(shí)時(shí)校準(zhǔn)，大大提高了傳感器精度的穩(wěn)定性，是紅外線傳感器技術(shù)領(lǐng)域跨時(shí)代的新技術(shù)。
【特點(diǎn)】
1．*zhuanli ：ALQ技術(shù)（無(wú)漏孔自校準(zhǔn)技術(shù)），解決了以前校準(zhǔn)后精度飄移的問(wèn)題，實(shí)施內(nèi)部校準(zhǔn)，避免了客戶定期手動(dòng)校正。
2．免維護(hù)型：除2種過(guò)濾器需要更換，其他無(wú)需維修保養(yǎng)。
3．消耗備件極少，后期維護(hù)簡(jiǎn)單且維護(hù)成本非常低。
4．采用紅外線技術(shù)快速準(zhǔn)確的查找漏點(diǎn)，傳感器壽命長(zhǎng)。
5．輕便探頭，大大降低操作者的勞動(dòng)強(qiáng)度，而且有多種探頭可供選擇。
6．反饋時(shí)間小于1秒，精度可達(dá)0.1g/y。
7．詳細(xì)的錯(cuò)誤描述，方便易用。
【可選探頭】
3種探頭可供選擇。
標(biāo)準(zhǔn)探頭：帶一個(gè)歸零鍵，非常輕便
屏顯探頭：靈巧型屏顯探頭
簡(jiǎn)易探頭：無(wú)功能鍵
探頭軟管長(zhǎng)度：1.8m; 3.6m
繞性探尖長(zhǎng)度：20cm
通用型鹵素檢漏儀 H25-IR PRO (美國(guó)巴克拉克)
技術(shù)參數(shù)
型號(hào) | H25-IR PRO 通用型 |
對(duì)應(yīng)冷媒 | 所有常用冷媒：R11,R12,R21,R22, R23, R32,R113, R114, R123, R124, R125,134a, R227,R236fa,R245fa,R401a,R402a,R402b,R404a,R407a,R407c,R408a,R409a, R410a,R422A,R422D,R424A,R426A,R427A,R438A,R500,R502,R503,R507,R508b, HFP,H1211,H1234YF, H1301, H-2402,N1230,FA188,FC72 |
傳感器 | 無(wú)分散型紅外線傳感器（NDIR） |
靈敏度 | 0.01oz/yr (0.28g/yr) |
預(yù)熱時(shí)間 | 60秒 |
反應(yīng)時(shí)間 | ﹤1秒（標(biāo)準(zhǔn)探頭） |
計(jì)量單位 | oz/yr，g/yr，mL/s，PaM3/s，ppm |
計(jì)量范圍 | 0.01～5oz/yr; 0.28～142g/yr; 0～1000ppm; 0.08x10-5到100x10-5 mL/s; 0.08x10-5到100x10-5 PaM3/s |
泄漏提示 | 聲音報(bào)警，屏幕數(shù)值顯示，探頭亮燈報(bào)警 |
外置漏孔 | 可另選配外置定量漏孔及可調(diào)漏率漏孔 |
操作模式 | 查找：查找泄漏點(diǎn)并定位 計(jì)量：計(jì)量及顯示泄漏值 |
分辨率 | 0.1泄漏單位 |
溫度漂移 | ±0.3%每℃ |
數(shù)據(jù)輸出 | R232，R485,4～20mA輸出 |
操作溫度 | 0～50℃ |
存放溫度 | -20～50℃ |
環(huán)境濕度 | 5～90%RH,無(wú)結(jié)露 |
電源 | 100～240VAC, 50/60Hz |
尺寸 | 102mm(高) x 273mm (寬) x394mm (長(zhǎng)) |
重量 | 8.2kg |
質(zhì)保 | 1年 |
認(rèn)證 | EN50270:2006;EN55011:2009/A1:2010; EN61010-1/IEC61010-1.UL61010-1:2010/CSA61010-1 |
美國(guó)巴克拉克鹵素檢漏儀 H25-IR PRO 露點(diǎn)儀
美國(guó)巴克拉克鹵素檢漏儀 H25-IR PRO 露點(diǎn)儀