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詳細(xì)摘要：萬通NIRS XDS TOPA近紅外光譜分析儀采用 XDS TOPA 近紅外光譜分析儀取代常規(guī)試驗(yàn)，您可以大大縮短產(chǎn)品停留時(shí)間，使實(shí)驗(yàn)室分析時(shí)間小化。

詳細(xì)摘要：Agilent 7850 ICP-MS 是建立在數(shù)十年的技術(shù)創(chuàng)新和成功商業(yè)應(yīng)用基礎(chǔ)上，儀器內(nèi)置上百個(gè)傳感器并配合直觀的軟件功能，是全新一代智能化 ICP-MS 系統(tǒng)。

詳細(xì)摘要：創(chuàng)新的Agilent Cary 3500 紫外-可見分光光度計(jì)具有優(yōu)異的光度測量性能和眾多*的測量功能，將為您的實(shí)驗(yàn)室?guī)碜兏?。全新的設(shè)計(jì)理念，旨在有效簡化您的實(shí)驗(yàn)設(shè)計(jì)并增強(qiáng)測試結(jié)果的可靠性。

詳細(xì)摘要：1.190~3300nm的寬波長，支持紫外-可見-近紅外區(qū)，滿足更多測定需求。 2.秉承日立優(yōu)異的光柵制造技術(shù)，使用具有日立蝕刻衍射光柵，衍射效率高，散射光量低，極大提高測光范圍。 3.自動(dòng)可變狹縫設(shè)計(jì)，根據(jù)樣品在不同波長處的光量自動(dòng)設(shè)定狹縫，實(shí)現(xiàn)紫外-可見-近

詳細(xì)摘要：日立熒光分光光度計(jì)F-4700是在前代機(jī)型F-4600的基礎(chǔ)上更新升級，基本性能得到了進(jìn)一步提升。靈敏度和波長掃描速度是選擇熒光分光光度計(jì)的兩個(gè)重要因素，F(xiàn)-4700與前代機(jī)型相比，靈敏度和掃描速度分別提高了1倍。與此同時(shí)，F(xiàn)-4700 采用長壽命氙燈，與前代機(jī)型使

詳細(xì)摘要：為熒光分光光度計(jì)的配件系統(tǒng)，這是將相機(jī)與熒光分光光度計(jì)的結(jié)合，融合了智能算法的先進(jìn)技術(shù)。能夠同時(shí)獲取樣品圖像和光譜信息。

詳細(xì)摘要：NexION 5000是業(yè)界多重四極桿ICP-MS，由四組四極桿組成，其性能超越了傳統(tǒng)的三重四極桿技術(shù)，無論是在背景等效濃度還是在檢出限，NexION 5000都比傳統(tǒng)的三重四極桿有數(shù)量級上的改善。

詳細(xì)摘要：精工是水平雙臂式TG/DTA技術(shù)的，EXSTAR系列TG/DTA以其性能及出色的性價(jià)比贏得了包括清華大學(xué)、北京大學(xué)、中科院、索尼、普利斯通等國內(nèi)外眾多用戶的青睞及好評，可以通過檢測每一步的樣品質(zhì)量損失來完成分解溫度、組分分析、可燃性、氧化穩(wěn)定性、相轉(zhuǎn)變溫度及

詳細(xì)摘要：Satorius賽多利斯原裝電極，型號為PY-ASI，適合于酸度計(jì)PB-10和PB-21，UB-7和UB-10，帶溫度探頭的三合一復(fù)合電極，酸度計(jì)PH電極，原裝*，安全耐用。

詳細(xì)摘要：Satorius賽多利斯原裝電極，型號為PY-ASI，適合于酸度計(jì)PB-10和PB-21，UB-7和UB-10，帶溫度探頭的三合一復(fù)合電極，酸度計(jì)PH電極，原裝*，安全耐用。

詳細(xì)摘要：FT160配置部件，可以提供精細(xì)結(jié)構(gòu)上的超薄鍍層的元素分析。毛細(xì)管聚焦光學(xué)鏡能聚焦直徑小于30μm的X射線束，從而在樣品上集中更大強(qiáng)度且其可測量的部件尺寸小于傳統(tǒng)準(zhǔn)直器可測量的部件尺寸。高靈敏度、高分辨率日立分析儀器硅漂移探測器（SDD）充分利用光學(xué)系

詳細(xì)摘要：束XRF涂層厚度和材料分析儀，方便快速進(jìn)行質(zhì)量控制和驗(yàn)證測試，在幾秒內(nèi)即可獲得準(zhǔn)確的數(shù)據(jù)?；赬-光熒光的涂層厚度和材料分析是業(yè)內(nèi)廣泛接受認(rèn)可的分析方法，提供易于使用、快速和無損的分析，幾乎不需要樣本制備，能夠分析元素周期表上從13Al 到92U 的固體

詳細(xì)摘要：微束XRF涂層厚度和材料分析儀，方便快速進(jìn)行質(zhì)量控制和驗(yàn)證測試，在幾秒內(nèi)即可獲得準(zhǔn)確的數(shù)據(jù)?；赬-光熒光的涂層厚度和材料分析是業(yè)內(nèi)廣泛接受認(rèn)可的分析方法，提供易于使用、快速和無損的分析，幾乎不需要樣本制備，能夠分析元素周期表上從13Al 到92U 的固

詳細(xì)摘要：概要：對應(yīng)環(huán)境限制物質(zhì)管理、可快速且簡單測量有害物質(zhì)的X射線熒光分析儀。

詳細(xì)摘要：手持式X光熒光分析儀（HHXRF）的X-MET8000系列提供進(jìn)行快速的合金等級鑒定及多種材料（固體和粉末金屬、聚合物、木材、溶液、土壤、礦石、礦物等）的準(zhǔn)確化學(xué)結(jié)構(gòu)分析所需的性能。 X-MET方便、耐用且使用簡單，可為您提供可靠的結(jié)果。

詳細(xì)摘要：XRF 分析（X射線熒光）與高度靈活和強(qiáng)大的能量色散X射線熒光 （EDXRF） 光譜儀 X-Supreme8000 和 Lab-X5000，在各種應(yīng)用中保證質(zhì)量和過程控制要求；例如原油和汽油、木材處理、礦物、采礦、化妝品、水泥和紙張。

詳細(xì)摘要：XRF 分析（X射線熒光）與高度靈活和強(qiáng)大的能量色散X射線熒光 （EDXRF） 光譜儀 X-Supreme8000 和 Lab-X5000，在各種應(yīng)用中保證質(zhì)量和過程控制要求；例如原油和汽油、木材處理、礦物、采礦、化妝品、水泥和紙張。

詳細(xì)摘要：手持式X光熒光分析儀（HHXRF）的X-MET8000系列提供進(jìn)行快速的合金等級鑒定及多種材料（固體和粉末金屬、聚合物、木材、溶液、土壤、礦石、礦物等）的準(zhǔn)確化學(xué)結(jié)構(gòu)分析所需的性能。 X-MET方便、耐用且使用簡單，可為您提供可靠的結(jié)果。

詳細(xì)摘要：New STA系列新增了能夠確保天平部位溫度恒定的新結(jié)構(gòu)，消除了受加熱爐溫度變化影響而導(dǎo)致的微小重量誤差，讓基線穩(wěn)定性水平遠(yuǎn)超日立原有產(chǎn)品。在加熱爐內(nèi)未放置試樣的狀態(tài)下，從室溫加熱至1,000℃，重量變動(dòng)幅度僅在10µg以下。此外，日立為滿足客戶

詳細(xì)摘要：我們的DSC（差示掃描量熱儀）被廣泛用于材料表征。 例如熔點(diǎn)，玻璃化轉(zhuǎn)變，結(jié)晶。 DSC600被廣泛用于包括聚合物，制藥，化學(xué)，石油和天然氣，食品和金屬等行業(yè)的質(zhì)量控制和研發(fā)。 日立的DSC具有靈敏度和基線平坦度，從而提供更精確的試驗(yàn)，并能評價(jià)最微小的反