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產(chǎn)品簡介
DB210 CLR 橋 *已停產(chǎn)
DB230 CLR元件測試儀
DB232 CLR 元件測試儀
DB233z CLR 組件測試儀
DB236大電容測試儀
DB230 CLR元件測試儀
DB232 CLR 元件測試儀
DB233z CLR 組件測試儀
DB236大電容測試儀
詳細(xì)介紹
DB236大電容測試儀
DB23X系列
概述
電容器的交流測量
用于精確測量電容、電感和電阻參數(shù)的 Danbridge 儀器套件包括供實(shí)驗(yàn)室使用的獨(dú)立測量電橋以及用于在工業(yè)環(huán)境中快速測量大量元件的自動(dòng)系統(tǒng)。
主要應(yīng)用：
在自動(dòng)分選機(jī)中快速、精確地測試電容器。
薄膜/箔電容器測試：
薄膜/箔電容器測試通常通過 1kHz 電容測試和 100kHz tan ? 或 ESR 測試進(jìn)行。雙頻測試是一個(gè)功能，可以在不到 50 毫秒的時(shí)間內(nèi)完成，并將分選輸出發(fā)送到分選機(jī)中的箱式分選裝置。
測試薄膜/箔電容器時(shí)，我們建議使用電容測試儀 DB232。該儀器或早期的 CT30 或多或少是薄膜/箔電容器自動(dòng)測試的工業(yè)標(biāo)準(zhǔn)，并被全球大多數(shù)最大的薄膜/箔電容器制造商所使用。
對于電容器的絕緣測試，請注意，快速兆歐表 DB622 是 DB232（或舊 CT30）的匹配。借助預(yù)充電和精細(xì)充電高壓電源以及多個(gè)充電站，丹橋兆歐表可以確保高速測試。
如果您使用舊的 Danbridge 電容器測試儀（例如 CT20 和 CT30），DB232 是替換它們的合理選擇。特別是DB232內(nèi)置CT30模式，可以快速、簡單地更換舊的CT20和CT30元件測試儀。
請注意，舊的 CT20 和 CT30 組件測試儀不再受支持。然而，通過將舊的 Danbridge 設(shè)備更換為新設(shè)備，我們可以為您提供舊儀器的回購價(jià)格以及類似新設(shè)備的靈活付款或租賃。
鉭電容的測試：
鉭電容器或大型薄膜/箔電容器通常使用高電容測試儀 DB236 進(jìn)行測試。該儀器除了具有 DB232 的功能外，還可以進(jìn)行阻抗測試，例如 @ 10kHz 或 100kHz。
陶瓷電容器的測試：
陶瓷電容器根據(jù)電容值需要以1kHz或1MHz進(jìn)行測試。電容測試儀 DB230 在 1kHz 時(shí)表現(xiàn)出出色的性能，是市場上最快的電容測試儀之一，測試速度在 1MHz 時(shí)低至 6ms，包括排序輸出。
因此，DB230 非常適合利用當(dāng)今 SMT 分選機(jī)的高速特性，從而通過為您提供高品質(zhì)電容器的高產(chǎn)量來確保高投資回報(bào)。
其他 CLR 應(yīng)用程序的示例：
電容器的一般測試、變壓器和線圈的測量、DB233z“取放"機(jī)器中的無源元件測試、電纜測試、電容式麥克風(fēng)測試以及繞線功率電阻器中的電阻和電感。
關(guān)鍵特點(diǎn)
測量頻率：100kHz、10kHz、1kHz 和 100Hz
總體精度優(yōu)于 0.05%，損耗因數(shù)優(yōu)于2 x 10 -4
外部橋接模塊，用于儀器和橋接模塊之間的長電纜（3m 或 118 英寸）
測量電纜：1m 或 39.3 英寸（標(biāo)配）
輸入保護(hù)可防止 2 焦耳至 1kV 的充電電容器。此功能可以通過可選的保護(hù)盒 PB11 進(jìn)行擴(kuò)展
內(nèi)置接觸檢查功能確保與設(shè)備的接觸良好，額外2-6 ms0
高測量速度：從觸發(fā)到測量結(jié)束20至180ms
測量范圍：0.1pF 至 3mF，具體取決于頻率
100kHz 時(shí)測量高達(dá) 9μF (0.2%)
內(nèi)部偏置電壓：發(fā)電機(jī)端子上高達(dá) ±3V DC，以 0.1V 步長設(shè)置
外部偏置電壓：高達(dá) ±48V DC 平均值：1 至 99 次測量
顯示讀數(shù)：直接或偏差電容以及損耗測量的 tan ? 或 ESR 以及 L/Q、Rs、Rp、Z
技術(shù)規(guī)格
DB210 CLR 橋 *已停產(chǎn)
DB230 CLR元件測試儀
DB232 CLR 元件測試儀
DB233z CLR 組件測試儀
DB236大電容測試儀
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