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2.25L16-9.6X10-A10-P-5-OM探頭應(yīng)用領(lǐng)域
閱讀：372 發(fā)布時間：2021-4-7| 提 供 商 | 京海興樂科技（北京）有限公司 | 資料大小 | 132.5KB |
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| 資料圖片 | 下載次數(shù) | 137次 | |
| 資料類型 | WORD 文檔 | 瀏覽次數(shù) | 372次 |
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2.25L16-9.6X10-A10-P-5-OM探頭應(yīng)用領(lǐng)域|京海興樂科技（北京）有限公司提供奧林巴斯OLYMPUS/ 2.25L16-9.6X10-A10-P-5-OM探頭應(yīng)用
用于腐蝕檢測的雙晶線性陣列（DLA）探頭，與常規(guī)超聲雙晶探頭相比，具有更多優(yōu)勢特性。這種相控陣解決方案可以提供更大的聲束覆蓋范圍、更快的掃查速度，以及具有更高數(shù)據(jù)點密度的C掃描成像功能，從而可提高檢測效率。與標(biāo)準(zhǔn)相控陣脈沖回波相比，這種新探頭所采用的一發(fā)一收技術(shù)在腐蝕測量應(yīng)用中可提供更好的近表面分辨率和點蝕探測能力，提高了臨界性壁厚減薄情況的檢出率。
得益于其內(nèi)置灌溉和可更好地貼附于管道弧面的可更換式延遲塊等新功能，雙晶線性陣列（DLA）腐蝕探頭現(xiàn)在可用于進(jìn)行自動檢測。
探頭的優(yōu)勢和特性
- 可探測表面以下1毫米的缺陷
- 性價比較高的可更換式延遲塊
- 內(nèi)置灌溉
- 高溫選項，可掃查熱表面
- 聲束覆蓋寬度高達(dá)30毫米
- 用途廣泛且調(diào)整迅速的系統(tǒng)，適用于直徑從4英寸到平面材料的檢測
- 堅固耐用的硬質(zhì)合金防磨板，可保護(hù)楔塊
- 碳鋼材料典型的檢測深度范圍為1毫米到80毫米
- USB存儲盤中的OmniScan配置文件（MX、MX2和SX）
OmniScan軟件特性
- 側(cè)視圖、端視圖和俯視圖成像（B掃描、D掃描和C掃描）
- 完整的高分辨率A掃描存儲
- 兩個可配置的探測閘門
- 在OmniScan探傷儀或使用OmniPC軟件的計算機(jī)中進(jìn)行離線分析
新特性，新潛能
雙晶線性陣列（DLA）腐蝕探頭和OmniScan SX探傷儀的組合是一種經(jīng)濟(jì)實惠的檢測選項。這種解決方案設(shè)置方便，操作簡單：加載所提供的設(shè)置文件，核查校準(zhǔn)情況，然后檢測并記錄數(shù)據(jù)。無需使用脈沖發(fā)生/接收（PR）儀器。
無論是使用編碼器對某個區(qū)域進(jìn)行手動掃查，還是使用MapROVER電動掃查器進(jìn)行高速、全體積成像，雙晶線性陣列（DLA）腐蝕探頭都可以在光滑的表面上快速輕松地完成C掃描成像操作。創(chuàng)新型探頭穩(wěn)定系統(tǒng)與可更換式弧面延遲塊和灌溉功能相結(jié)合，可在直徑小至4英寸的管材表面提供優(yōu)質(zhì)的聲束傳播效果。我們還提供可檢測溫度高達(dá)150°C表面的雙晶線性陣列（DLA）腐蝕探頭的高溫版本。
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| 在自動檢測中與MapROVER掃查器一起使用的DLA腐蝕探頭。 |
雙晶陣列一發(fā)一收技術(shù)
與雙晶UT探頭一樣，雙晶線性陣列探頭包含一組發(fā)射晶片和一組接收晶片，這兩組晶片被分別安裝在以一定角度切割的延遲塊的兩部分上。這種配置生成在被測工件表面以下聚焦的聲束，從而可大幅降低表面反射的波幅。而且還提高了近表面分辨率，可獲得點蝕、蠕變損傷和HIC（氫致裂紋）等關(guān)鍵性缺陷的更高的檢出率。
| 一發(fā)一收 | 脈沖回波 |
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與相控陣脈沖回波相比，一發(fā)一收技術(shù)僅生成非常小的界面回波，可提供更好的近表面分辨率。
碳鋼管道上腐蝕缺陷的B掃描圖像