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廣東天瑞儀器有限公司
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無(wú)鹵檢測(cè)儀
  • 無(wú)鹵檢測(cè)儀

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更新時(shí)間:2024-12-17 21:00:21

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無(wú)鹵檢測(cè)儀目前XRF在氯的測(cè)試結(jié)果判定方面沒(méi)有一個(gè)專門的標(biāo)準(zhǔn)來(lái)執(zhí)行,而鹵素標(biāo)準(zhǔn)與rohs標(biāo)準(zhǔn)之間有很大的關(guān)聯(lián),執(zhí)行rohs標(biāo)準(zhǔn)的時(shí)候?qū)Y(jié)果的判定是參考IEC62321文件來(lái)執(zhí)行的,所以目前大部分XRF廠商對(duì)于Cl的結(jié)果的判定也是參考IEC62321文件執(zhí)行,以下節(jié)選自IEC62321文件里面各元素的檢測(cè)結(jié)果的判斷方法。

 無(wú)鹵檢測(cè)儀目前XRF在氯的測(cè)試結(jié)果判定方面沒(méi)有一個(gè)專門的標(biāo)準(zhǔn)來(lái)執(zhí)行,而鹵素標(biāo)準(zhǔn)與rohs標(biāo)準(zhǔn)之間有很大的關(guān)聯(lián),執(zhí)行rohs標(biāo)準(zhǔn)的時(shí)候?qū)Y(jié)果的判定是參考IEC62321文件來(lái)執(zhí)行的,所以目前大部分XRF廠商對(duì)于Cl的結(jié)果的判定也是參考IEC62321文件執(zhí)行,以下節(jié)選自IEC62321文件里面各元素的檢測(cè)結(jié)果的判斷方法。

 

  無(wú)鹵檢測(cè)儀各種類型的XRF光譜儀單獨(dú)使用,分析方法允許使用者把樣品歸納為以下三類的其中一類:
a)       “合格”- 如果對(duì)所有的元素定量分析的結(jié)果全部小于表2所列的低限值,樣品經(jīng)過(guò)測(cè)試為合格。
b)      “不合格”- 如全部高于表2所列的高限值,樣品經(jīng)過(guò)測(cè)試為不合格。
c)       “未決定”- 如果對(duì)Hg、Pb或者Cd其中任何一種的元素定量分析的結(jié)果處于中間區(qū)域或者元素Br和Cr的結(jié)果高于表2所列的高限值,分析結(jié)果為未做決定。還必須要進(jìn)行進(jìn)一步的研究。這個(gè)檢測(cè)是“未決定”。
表2:各種基材中受限元素的篩選限值,單位(mg/kg)
元素 聚合物材料 金屬材料 電子元件 
Cd P≤(70-3σ)<X <(130+3σ)≤F P≤(70-3σ)<X <(130+3σ)≤F LOD≤X <(250+3σ)≤F 
Pb P≤(700-3σ)<X <(1300+3σ)≤F P≤(700-3σ)<X <(1300+3σ)≤F P≤(500-3σ)<X <(1500+3σ)≤F 
Hg P≤(700-3σ)<X <(1300+3σ)≤F P≤(700-3σ)<X <(1300+3σ)≤F P≤(500-3σ)<X <(500+3σ)≤F 
Br P≤(300-3σ)<X 
 P≤(250-3σ)<X 
Cr P≤(700-3σ)<X P≤(700-3σ)<X P≤(500-3σ)<X 
     篩選限值已列于表2中。普通法定的對(duì)受關(guān)注物質(zhì)的限值已經(jīng)受到了相關(guān)的評(píng)估,但對(duì)此方法“執(zhí)行的水平”已經(jīng)為篩選過(guò)程定了容許30%(50%對(duì)于電子元件)安全極限值的偏差,這樣合格(P)或者不合格(F)的決定將會(huì)分別設(shè)定為少于和多于30%(50對(duì)于電子元件)的法定限值。極限值得到了很多做實(shí)驗(yàn)的和工廠的實(shí)踐人員的贊同。“X”符號(hào)表示這樣一個(gè)區(qū)域,在這個(gè)區(qū)域中的數(shù)值還需要進(jìn)一步的研究。
     因此天瑞公司對(duì)于Cl元素的結(jié)果的判斷也是參考此文件得出如下的判斷方法。

元素 聚合物材料 金屬材料 電子元件 
Cl P≤(70-3σ)<X <(130+3σ)≤F 
 
 

 

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