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廣東天瑞儀器有限公司
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XRF1800b-昆山ROHS檢測(cè)儀
  • XRF1800b-昆山ROHS檢測(cè)儀

貨物所在地:江蘇蘇州市

地: 江蘇

更新時(shí)間:2024-12-17 21:00:21

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昆山ROHS檢測(cè)儀指令是歐盟(Eu)對(duì)進(jìn)入歐洲市場(chǎng)的電子電氣產(chǎn)品限制使用六種有害物質(zhì)的禁令,指令規(guī)定,輸往歐洲的電子產(chǎn)品及其組件均需對(duì)六種有毒成份:鉛(Pb)、汞(H)、鎘(Cd)、六價(jià)鉻(Cr6+)、多溴聯(lián)苯(PBBs)、多溴二苯醚(PBDEs)等有害物質(zhì)加以限制。電鍍器件作為電子電器產(chǎn)品的重要組成部分必須符合RoHS標(biāo)準(zhǔn)。

昆山ROHS檢測(cè)儀儀器概述

    RoHS指令是歐盟(Eu)對(duì)進(jìn)入歐洲市場(chǎng)的電子電氣產(chǎn)品限制使用六種有害物質(zhì)的禁令,指令規(guī)定,輸往歐洲的電子產(chǎn)品及其組件均需對(duì)六種有毒成份:鉛(Pb)、汞(H)、鎘(Cd)、六價(jià)鉻(Cr6+)、多溴聯(lián)苯(PBBs)、多溴二苯醚(PBDEs)等有害物質(zhì)加以限制。電鍍器件作為電子電器產(chǎn)品的重要組成部分必須符合RoHS標(biāo)準(zhǔn)。天瑞儀器專門針對(duì)RoHS測(cè)試用戶推出EDX1800B X熒光光譜儀,該儀器應(yīng)用新一代的高壓電源和X光管,提高產(chǎn)品的可靠性;利用新X光管的大功率提高儀器的測(cè)試效率。

性能優(yōu)勢(shì)

下照式:可滿足各種形狀樣品的測(cè)試需求
準(zhǔn)直器和濾光片:多種準(zhǔn)直器和濾光片的電動(dòng)切換,滿足各種測(cè)試方式的應(yīng)用
移動(dòng)平臺(tái):精細(xì)的手動(dòng)移動(dòng)平臺(tái),方便定位測(cè)試點(diǎn)
高分辨率探測(cè)器:提高分析的性
新一代的高壓電源和X光管:性能穩(wěn)定可靠,高達(dá)100W的功率實(shí)現(xiàn)更高的測(cè)試效率

技術(shù)指標(biāo)

元素分析范圍從硫(S)到鈾(U)
分析檢出限可達(dá)1ppm
分析含量一般為1ppm到99.99%
任意多個(gè)可選擇的分析和識(shí)別模型
相互獨(dú)立的基體效應(yīng)校正模型
多變量非線性回歸程序
多次測(cè)量重復(fù)性可達(dá)0.1%(含量96%以上)
工作穩(wěn)定性為0.1%(含量96%以上)
溫度適應(yīng)范圍為15℃30℃
電源:交流220V±5V,建議配置交流凈化穩(wěn)壓電源
能量分辨率:160±5eV
樣品腔尺寸:439mm×300mm×96mm
儀器尺寸:550mm×416mm×333mm
儀器重量:45kg

昆山ROHS檢測(cè)儀測(cè)試實(shí)例

     按照中國(guó)國(guó)家標(biāo)準(zhǔn)指導(dǎo)性技術(shù)檔GB/Z 20288-2006《電子電器產(chǎn)品中有害物質(zhì)檢測(cè)樣品拆分通用要求》中規(guī)定:表面處理層應(yīng)盡量與本體分離(鍍層),對(duì)于確定無(wú)法分離的鍍層,可對(duì)表面處理層進(jìn)行初篩(使用X射線熒光光譜儀(XRF)手段),篩選合格則不用拆分;篩選不合格,可使用非機(jī)械方法分離(如使用能溶解表面處理層而不能溶解本體材料的化學(xué)溶劑溶劑提取額)。對(duì)鍍層樣品進(jìn)行RoHS測(cè)試時(shí),先用EDX1800B儀器直接進(jìn)行鍍層RoHS測(cè)試,如果合格則樣品符合RoHS標(biāo)準(zhǔn)。如果鍍層不合格將進(jìn)行下步拆分測(cè)試。

選擇客戶提供銅鍍銀的樣品進(jìn)行RoHS測(cè)試,其測(cè)試結(jié)果如下:

 


客戶銅鍍銀樣品RoHS測(cè)試譜圖


元素

 


Cr

 


Br

 


Hg

 


Cd

 


Pb

 


含量(ppm)

 


142

 


ND

 


ND

 


ND

 


ND

 


是否符合RoHS標(biāo)準(zhǔn)

 


pass

 


pass

 


pass

 


pass

 


pass

 


銅鍍銀樣品RoHS測(cè)試數(shù)據(jù)

 

結(jié)論

 

    實(shí)驗(yàn)表明,使用EDX 1800B儀器*可以滿足鍍件RoHS測(cè)試需求。其測(cè)試效果已經(jīng)超越性標(biāo)準(zhǔn)IEC62321中將X射線熒光光譜分析方法設(shè)定為快速篩選法的要求,*可以進(jìn)行測(cè)試。

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