X射線光譜分析儀EDX4500 性能參數(shù) 
 
產(chǎn)品型號：EDX 4500
產(chǎn)品名稱：X熒光光譜儀 
測量元素范圍：從鈉（Na）到鈾（U）
同時分析元素：一次性可測幾十種元素 
測量時間：60秒-200秒 
探測器能量分辨率為：145±5eV
管壓：5KV-50KV 
管流：50μA-1000μA
測量對象狀態(tài)：粉末、固體、液體
輸入電壓：AC 110V/220V
環(huán)境溫度：15℃-30℃ 
環(huán)境濕度：35%-70%
外形尺寸：660mm×510mm×350mm 
樣品腔體積：Φ320mm×100mm
重量：65Kg
元素含量分析范圍： ppm—99.99%（不同元素，分析范圍不同） 

X射線光譜分析儀EDX4500性能特點(diǎn) 
高效超薄窗X光管，指標(biāo)達(dá)到水平 
SDD硅漂移探測器，良好的能量線性、能量分辨率和能譜特性，較高的峰背比 
天瑞儀器 產(chǎn)品—信噪比增強(qiáng)器（SNE），提高信號處理能力25倍以上 
低能X射線激發(fā)待測元素，對Si、P等輕元素激發(fā)效果好 
智能抽真空系統(tǒng)，屏蔽空氣的影響，大幅擴(kuò)展測試的范圍 
自動穩(wěn)譜裝置了儀器工作的*性
高信噪比的電子線路單元 
較新的數(shù)字多道技術(shù)，讓測試更快，計數(shù)率達(dá)到100000CPS，精度更高。在合金檢測中效果更好
針對不同樣品自動切換準(zhǔn)直器和濾光片，免去手工操作帶來的繁瑣 
解譜技術(shù)使譜峰分解，使被測元素的測試結(jié)果具有相等的分析精度
多參數(shù)線性回歸方法，使元素間的吸收、增強(qiáng)效應(yīng)得到明顯的抑制
內(nèi)置高清晰攝像頭 
液晶屏顯示讓儀器的重要參數(shù)（管壓、管流、真空度）一目了然 
X射線光譜分析儀標(biāo)準(zhǔn)配置 
高效超薄窗X光管 
SDD硅漂移探測器 
數(shù)字多道技術(shù)
信噪比增強(qiáng)器 SNE
鋼鐵行業(yè)測試配件 
光路增強(qiáng)系統(tǒng) 
高信噪比電子線路單元 
內(nèi)置高清晰攝像頭 
真空泵 
自動切換型準(zhǔn)直器和濾光片 
自動穩(wěn)譜裝置 
三重安全保護(hù)模式 
相互獨(dú)立的基體效應(yīng)校正模型 
多變量非線性回歸程序 
整體鋼架結(jié)構(gòu)，力度可靠的 
90mm×70mm的液晶屏 
X射線光譜分析儀廠家優(yōu)勢