EDXRF能量色散X射線熒光光譜分析儀EDX1800B體積小、穩(wěn)定性好、分析快速、運(yùn)行成本低、操作維護(hù)方便、是控制產(chǎn)品質(zhì)量的理想選擇。可測定鉛Pb、汞Hg、鎘Cd、鉻Cr、溴Br等元素。硅半導(dǎo)體探測器，通過智能激發(fā)和檢測設(shè)計(jì)實(shí)現(xiàn)高靈敏度，用戶可自定義多曲線多光譜擬和分析方法，適用于不同的應(yīng)用場合。

應(yīng)用領(lǐng)域

EDXRF能量色散X射線熒光光譜分析儀EDX1800B應(yīng)用于RoHS檢測分析。

采用的是X射線熒光分析原理，受激發(fā)的樣品中的每一種元素會放射出二次X射線，并且不同的元素所放射出的二次X射線具有特定的能量特性或波長特性。探測系統(tǒng)測量這些放射出來的二次X射線的能量及數(shù)量。然后，儀器軟件將探測系統(tǒng)所收集到的信息轉(zhuǎn)換成樣品中各種元素的種類及含量。

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融合經(jīng)驗(yàn)系數(shù)法、基本參數(shù)法（FP法）等分析方法，測試數(shù)據(jù)的性能得到。

經(jīng)驗(yàn)系數(shù)法：儀器依據(jù)對標(biāo)準(zhǔn)樣品的測定，確定影響系數(shù)。對標(biāo)準(zhǔn)樣品要求高，需和待測樣品類型相近，校正模型簡單。

基本參數(shù)法（FP法）：儀器根據(jù)實(shí)際檢測物質(zhì)，通過對多種物理量建模計(jì)算確定參數(shù)。對標(biāo)準(zhǔn)樣品要求不高，計(jì)算較復(fù)雜，適合缺少對應(yīng)標(biāo)樣的物質(zhì)檢測。

 

進(jìn)口硬件

1	美國進(jìn)口Si-PIN探測器，高速脈沖高度分析系統(tǒng)
2	美國SPELLMAN高壓發(fā)生器
3	美國進(jìn)口前置放大器，與美國進(jìn)口探測器兼容性好
4	美國進(jìn)口主放大器，與美國進(jìn)口探測器兼容性好
5	美國進(jìn)口AD轉(zhuǎn)換模塊，與美國進(jìn)口探測器兼容性好