名         稱：透射反射測(cè)試儀

型         號(hào)：X3PCSR

品         牌：上海析譜

上海析譜X3PCSR可見(jiàn)分光光度計(jì)概述用途：

可供物理學(xué)、化學(xué)、醫(yī)學(xué)、生物學(xué)、藥物學(xué)、地質(zhì)學(xué)等學(xué)科進(jìn)行科學(xué)研究，是廣泛應(yīng)用于化工、電廠、食品、教學(xué)、藥品、生化、冶金、輕工、材料、環(huán)保、醫(yī)學(xué)化驗(yàn)等行業(yè)及分析行業(yè)中重要的質(zhì)量控制儀器之一，是常規(guī)實(shí)驗(yàn)室的*儀器。

上海析譜X3PCSR可見(jiàn)分光光度計(jì)特點(diǎn)：

1. 寬大的樣品室，可容納5—100mm各種規(guī)格的比色皿；190*120mm大平片導(dǎo)航觸摸屏的反射透射都可量;

2. 設(shè)計(jì)*的光學(xué)系統(tǒng)、高性能全息光柵和接收器確保儀器具有優(yōu)良的性能指標(biāo)；

3. 采用單機(jī)操作，線性回歸方程測(cè)量等；

4. 應(yīng)用微機(jī)處理技術(shù)使操作更為方便

5.波長(zhǎng)，調(diào)零全自動(dòng)，波長(zhǎng)最小間隔0.1nm

6.配2套上層軟件，

A透射測(cè)量覆蓋所有功能，光譜掃描、時(shí)間掃描、DNA測(cè)試、多波長(zhǎng)測(cè)試、標(biāo)準(zhǔn)曲線測(cè)試等，并且使數(shù)據(jù)儲(chǔ)存達(dá)到無(wú)限。

B反射測(cè)量，剩余反射測(cè)量裝置及測(cè)量軟件。

技術(shù)參數(shù)：

波長(zhǎng)范圍：325-1100nm

光譜帶寬：1,2,4,5nm狹縫自動(dòng)可變

圓形樣品最小測(cè)試φ2反射率樣品

波長(zhǎng)準(zhǔn)確度：±0.5nm

波長(zhǎng)重復(fù)性：0. 2nm

光度準(zhǔn)確度：±0.5%T

光度重復(fù)性：0.2%T

雜散光：0.1%T（360nm處）

穩(wěn)定性：±0.001A/h(500nm處)

顯示方式：液晶顯示器

最小分辨率0.1nm

吸光度范圍：-0.3-3.0A，0-200%T

檢測(cè)器： 進(jìn)口硅光二極管

光源： 進(jìn)口品牌鎢燈

鍵盤： 觸摸式按鍵

數(shù)據(jù)輸出： RS-232標(biāo)準(zhǔn)接口 /USB接口

打印輸出： 并口

電源： AC 220V/50Hz 或 110V/60Hz

儀器尺寸： 470*380*200mm

機(jī)重量： 13kg

潛水鏡片，導(dǎo)航觸摸屏、手機(jī)攝像頭、隱形眼鏡片，光學(xué)鍍膜件通過(guò)儀器(反射軟件)反射率測(cè)量/透射率測(cè)量后才能準(zhǔn)確修正物理膜系。