目錄:聯(lián)合光科技(北京)有限公司>>測量儀器>>光學(xué)器件性能檢測儀器>> 750114 750115 750116緊湊型波前測量儀
產(chǎn)地類別 | 進(jìn)口 | 價格區(qū)間 | 面議 |
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應(yīng)用領(lǐng)域 | 綜合 |
全歐光學(xué)WaveMaster波前測量儀用于球面透鏡,非球面透鏡和光學(xué)系統(tǒng)的波前測量,集成了準(zhǔn)直系統(tǒng),擴束或縮束系統(tǒng),高精度樣品臺,多種光源和WaveSensor波前傳感器。此傳感器采用夏克-哈特曼傳感器原理,用于平面、球面、非球面面型的檢測,光學(xué)系統(tǒng)像差檢測,輸出激光光束質(zhì)量檢測,光束動態(tài)變化檢測,自適應(yīng)系統(tǒng)波前的探測,并有針對大口徑光學(xué)和人工晶體波前檢測的解決方案。WaveMaster波前測量儀主要用來測量大型雙遠(yuǎn)心鏡頭的全場波前,還可給出被測樣品的面型(PV和RMS),澤尼克系數(shù)(Zernike),點擴散函數(shù)(PSF),調(diào)制傳遞函數(shù),斯特列爾比,楔角。同時,該產(chǎn)品也可用于人工晶體在空氣中或原位中的檢測,晶體低階和高階的相差,晶體的調(diào)制傳遞函數(shù)(MTF),晶體的點擴散函數(shù)(PSF),晶體屈光度和像差。軟件具有多種模塊功能,簡單易用,用戶可根據(jù)需要進(jìn)行選擇。
WaveMaster® COMPACT系列產(chǎn)品可以簡單快速的完成對球面或非球面鏡片波前質(zhì)量的檢測,并運用澤尼克多項式實時分析波前數(shù)據(jù),在生產(chǎn)和研發(fā)上都有著廣泛應(yīng)用。WaveMaster® COMPACT2 Universal是專業(yè)級的波前測量儀,集成了WaveMaster® COMPACT2和WaveMaster® COMPACT2 Reflex所有功能。
應(yīng)用范圍:
各種球面或非球面鏡片光學(xué)波前面和鏡片或鏡頭的表面面形的檢測。
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