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貨物所在地：廣東深圳市
更新時(shí)間：2024-10-08 21:00:07
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iEDX-100T鍍層測(cè)厚儀應(yīng)用于金屬電鍍鍍層分析領(lǐng)域
技術(shù)指標(biāo)
多鍍層分析，1～5層
測(cè)試精度：0.001 μm
元素分析范圍從鋁(Al)到鈾(U)
測(cè)量時(shí)間：10~30秒
SDD探測(cè)器，能量分辨率為125±5eV
探測(cè)器Be窗0.5mil（12.7μm）
微焦X射線管50KV/1mA，鉬，銠靶（高配微焦鉬靶）
6個(gè)準(zhǔn)直器及多個(gè)濾光片自動(dòng)切換
XYZ三維移動(dòng)平臺(tái)，大荷載為10公斤
高清CCD攝像頭（200萬(wàn)像素），精確監(jiān)控位置
多變量非線性去卷積曲線擬合
高性能FP/MLSQ分析
儀器尺寸：450×520×385mm
平臺(tái)移動(dòng)范圍：340×280×108mm
圖譜界面
軟件支持無(wú)標(biāo)樣分析
超大分析平臺(tái)和樣品腔
集成了鍍層界面和合金成分分析界面
采用*的多種光譜擬合分析處理技術(shù)
鍍層測(cè)厚分析精度可達(dá)到0.001μm
分析報(bào)告結(jié)果
直接打印分析報(bào)告
報(bào)告可轉(zhuǎn)換為PDF，EXCEL格式
樣品分析圖譜：
測(cè)試結(jié)果界面：
(空格分隔,最多3個(gè),單個(gè)標(biāo)簽最多10個(gè)字符)
會(huì)員.png)
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