徠卡課堂 | 如何使金屬晶粒度分析適應(yīng)您的需求?
測(cè)量晶粒度為何如此重要?
在許多行業(yè),金屬合金是構(gòu)成各種產(chǎn)品的重要材料。當(dāng)前使用的標(biāo)準(zhǔn)合金多達(dá)數(shù)千種,而為了滿足新的需求,每天都在不斷開發(fā)性能更出眾的新型合金。例如,汽車、卡車、飛機(jī)和火車在制造過程中會(huì)使用多種鋼合金和鋁合金。
長(zhǎng)期以來,大家都知道隨著粒度的增大,合金的:
> 抗張強(qiáng)度 (Rm) 和屈服強(qiáng)度 (Re) 將減小;
> 斷裂延伸率 (A%) 將增大;且 > 韌脆轉(zhuǎn)變溫度將增大。
列舉典型鋼合金的應(yīng)力-應(yīng)變曲線。鋼平均粒度從曲線 1 增加到 3 (如箭頭指示)。隨著粒度變大,屈服強(qiáng)度 (Re) 和抗張 強(qiáng)度 (Rm) 減小,斷口延伸率 (A%) 增大。(來源:來自羅馬大學(xué)的 M. Cavallini 以及來自卡西諾和南拉齊奧大學(xué)的 V. Di Cocco 和 F.Iacoviello[1]。)
徠卡顯微系統(tǒng)推出的LAS 和
LAS X Grain Expert 軟件
徠卡顯微鏡使用 LAS Grain Expert 軟件提供實(shí)用、準(zhǔn)確且可再現(xiàn)的粒度和微觀結(jié)構(gòu)分析解決方案。粒度使用自動(dòng)應(yīng)用的傳統(tǒng)方法或數(shù)字方法進(jìn)行分析。分析方法符合各種標(biāo)準(zhǔn)。
LAS Grain Expert 的優(yōu)勢(shì): 工作流程簡(jiǎn)明,報(bào)告可定制
Leica Grain Expert 提供全面的材料研究和冶金學(xué)粒度分析技術(shù)。用戶可以確信分析過程符合不同的實(shí)驗(yàn)室要求。 Leica Grain Expert 集成了多種行業(yè)標(biāo)準(zhǔn),包括 ASTM E112、JIS G 0551/0552、ISO 643:2003 以及其他標(biāo)準(zhǔn)。
其采用*的圖像處理技術(shù),可自動(dòng)增強(qiáng)和準(zhǔn)確檢測(cè)晶界。操作員始終可修改和確認(rèn)發(fā)現(xiàn)的結(jié)果。分析結(jié)果可用于驗(yàn)證材料是否符合買家與制造商確定的技術(shù)規(guī)范,識(shí)別制造過程中的變動(dòng),并提供材料結(jié)構(gòu)和屬性的研究數(shù)據(jù)。
Grain Expert 軟件簡(jiǎn)單易學(xué)。LAS Grain Expert可幫助用戶選擇合適的晶界檢測(cè)算法。只需選擇與樣品相似的示例圖像,便可應(yīng)用正確的分析算法。
在晶界檢測(cè)之前,可使用附帶的圖像分析模塊進(jìn)行二進(jìn)制或圖像處理。這些技術(shù)常用于晶界模糊的情形,以便更好地呈現(xiàn)晶界并應(yīng)用算法。即使腐蝕效果不佳,也不會(huì)降低分析質(zhì)量。針對(duì)質(zhì)量控制和研發(fā)目的,還可定制基于 Excel 的報(bào)告模板。
使用 Leica Grain Expert 軟件
實(shí)現(xiàn)詳盡的粒度分析
LAS Grain Expert 軟件能夠用 G (粒度號(hào)) 表示平均粒度,并計(jì)算:
> 粒度號(hào)分布、平均值、標(biāo)準(zhǔn)偏差和 其他統(tǒng)計(jì)值;
> 平均晶粒面積;
> 大和小粒度;
> 置信水平 (p 值);
> 結(jié)果的相對(duì)準(zhǔn)確度。