半導(dǎo)體粉末電阻率測試儀 是運用四端子法或四探針法測試粉末電阻率的測量儀器。
儀器組成： 整套儀器有主機和粉末測試臺兩大部分組成。
主機 是整個系統(tǒng)電氣控制顯示核心部分，主要由精密恒流源、高分辨率ADC、嵌入式單片機系統(tǒng)單元以及壓力厚度顯示單元組成。
粉末測試臺 是連接測試主機，用來裝夾半導(dǎo)體粉末（含高分子粉末和金屬粉末等），進行壓力施加（壓片），并同步進行電阻率測試的裝置（以下簡稱測試臺）。
測試臺為粉末標(biāo)準容器、電、加壓機構(gòu)、壓力檢測、厚度檢測、連接線纜等單元組成。
優(yōu)勢特征：測試臺設(shè)計，符合國標(biāo)和行業(yè)規(guī)范，國內(nèi)，并獲。有兩款。
四端子法符合GB/T 24521-2009和YS/T 587.6-2006有關(guān)國標(biāo)和行業(yè)標(biāo)準。采用通用的電流、電壓四端子測量法（儀器電流源和電壓表兩個單元分別從獨立回路連至電同時和樣品接觸），可以消除電與連接導(dǎo)線導(dǎo)通電阻產(chǎn)生的誤差，克服了傳統(tǒng)的二端法測量粉末電阻率儀器的弊病，可以真實地、準確地測量出粉末樣品的電阻率，因此重復(fù)性也好。
四探針法測試臺設(shè)計符合符合GBT 30835-2014《鋰離子電池用炭復(fù)合磷酸鐵鋰正材料》中關(guān)于粉末電阻率測試的原理和規(guī)范，參照GB/T 1551-2009 《硅單晶電阻率測定方法》、GB/T 1552-1995《硅、鍺單晶電阻率測定直流四探針法》并參考美國A.S.T.M 標(biāo)準。
半導(dǎo)體粉末電阻率測試儀
四探針法同步壓力連續(xù)測試粉末“電阻率-壓強曲線，”
國內(nèi)，行業(yè)，行業(yè)推薦粉末電阻率標(biāo)準測試方式。
儀器所有參數(shù)設(shè)定、功能轉(zhuǎn)換全部采用數(shù)字化鍵盤輸入；具有零位、滿度自校功能；電壓電流全自動轉(zhuǎn)換量程；測試結(jié)果由數(shù)字表頭直接顯示。
壓力機構(gòu)采用手動操作，壓力（壓強）平穩(wěn)可調(diào)、可保持。電子傳感器自動同步檢測、顯示壓力（壓強）值和樣本高度。故本測試臺可一邊加壓一邊同步測試電阻率，可方便測繪粉末樣品“電阻率-壓強”的性能曲線；也可以單獨作為粉末壓制成片的工具使用，成片后可脫模取出，用普通四探針法測試相關(guān)參數(shù)！
本測試儀配有成套PC軟件，故不但可以單獨（脫機）操作，還可以連接PC軟件，自動保存當(dāng)前測試數(shù)據(jù)、查詢并統(tǒng)計分析歷史數(shù)據(jù)、打印測試報告等！
本儀器具有測量精度高，操作簡便、穩(wěn)定性好，重復(fù)性好，一機多用使用方便等特點。也是區(qū)別于以往舊款同類測試臺新特點！本儀器于碳素廠、焦化廠、石化廠、粉末冶金廠、高等院校、科研部門、是檢驗和分析固態(tài)和粉態(tài)樣品質(zhì)量的一種重要優(yōu)良工具。
三、技術(shù)參數(shù)
1. 電阻率測量范圍、分辨率
電 阻 率： 15.0×10-6 ～ 200.0×103 Ω-cm 分辨率1.5×10-6 ～ 0.1×103 Ω-cm
（1.0×10-6 ～ 200.0×101 Ω-cm 分辨率0.1×10-6 ～ 0.1×101 Ω-cm）
2
滿度顯示 | 200.0 | 20.00 | 2.000 | 200.0 | 20.00 | 2.000 | 200.0 | 20.00 |
大拓展量程 | KΩ-cm | Ω-cm | mΩ-cm | |||||
基本誤差 | ±2%讀數(shù)±4字 | ±1.5%讀數(shù)±4字 | ±0.5%讀數(shù) ±2字 | ±0.5%讀數(shù) ±4字 | ||||
3. 數(shù)字電壓表： 北京同德創(chuàng)業(yè) 專業(yè)鑄造品質(zhì)
⑴量程：10mV ～ 100 mV，自動
⑵顯示: 4位有效數(shù)字，大顯示999.9 小數(shù)點、單位自動顯示
4. 數(shù)控恒流源
電流輸出：直流電流0.1µA～1000mA可調(diào)，系統(tǒng)自動步進調(diào)整。
5.粉末測試臺部分參數(shù)：
（1）、試樣成份：成份不限，但不得含有對測試臺和電有腐蝕作用的成份。
（2）、試樣粒度：標(biāo)準以40目以下—60目以上（標(biāo)準篩網(wǎng)），一般其他粒度也可！
（3）、試樣容器：內(nèi)徑：Φ11.28mm（S=1.0cm2）
高度：0～20mm可調(diào),帶高度傳感器監(jiān)測，測量誤差：±0.05mm。
（4）、
標(biāo)準壓強：P0=4Mpa±0.05Mpa。
壓強量程：20Mpa, P=0～20 Mpa可調(diào)。
（5）、壓力機構(gòu)采用手動操作、壓力平穩(wěn)可調(diào)。
四位有效顯示數(shù)00.00～20.00MPa，分別率±0.01 MPa。
6.測試儀外形與重量
前寬×長×總高=250mm×220 mm×540mm
重 量=10Kg
7. 電源：
功 耗：< 10W
輸入:220V±10% 50Hz
8. 本儀器工作條件為：
溫 度： 0-40℃
相對濕度： ≥60%
工作室內(nèi)應(yīng)無強電磁場干擾，不與高頻設(shè)備共用電源。
 | 產(chǎn)品名稱：雙組合四探針方阻/電阻率測試儀 雙電測四探針測試儀 產(chǎn)品型號：KDB-3 |
雙組合四探針方阻/電阻率測試儀 雙電測四探針測試儀 型號：KDB-3
KDB-3雙組合測試儀是根據(jù)標(biāo)準SEMI MF1529設(shè)計，雙組合測試方法使用四探針的方式不同于其他ASTM測量半導(dǎo)體電阻率或薄層電阻的方法。在本測試方法中，在測試樣品的每個測量位置上，以兩種不同的方式（配置）將探針連接到提供電流和測量電壓的電路中。四探針的這種使用法通常被稱為“雙配置”或“配置切換”測量。單組合四探針相比，用較小間距的探針頭就可以進行高精度的測量，從而可獲得更高的晶片薄層電阻變化的空間分辨率。
儀器特點如下：
1、配有雙數(shù)字表：一塊數(shù)字表在測量顯示硅片電阻率的同時，另一塊數(shù)字表（以萬分之幾的精度）適時監(jiān)測全過程中的電流變化，使操作更簡便，測量更。
數(shù)字電壓表量程：0—199.99mV 靈敏度：10μV 輸入阻抗：1000ΜΩ
基本誤差±(0.04-0.05%讀數(shù)+0.01%滿度)
2、可測電阻率范圍：10—4 —1.9×104Ω·cm。
可測方塊電阻范圍：10—3 —1.9×105Ω/□。
3、設(shè)有電壓表自動復(fù)零功能，當(dāng)四探針頭1、4探針間未有測量電流流過時，電壓表指零，只有1、4探針接觸到硅片，測量電流渡過單晶時，電壓表才指示2、3探針間的電壓（即電阻率）值；同樣，當(dāng)四探針頭1、3探針間未有測量電流流過時，電壓表指零，只有1、3探針接觸到硅片，測量電流渡過單晶時，電壓表才指示2、4探針間的電壓（即電阻率）值，避免空間雜散電波對測量的干擾。
4、流經(jīng)硅片的測量電流由高度穩(wěn)定（萬分之五精度）的特制恒流源提供，不受氣候條件的影響，整機測量精度＜3%。
電流量程分五檔：10μA、100μA、1mA、10mA、100mA。
5、儀器采用觸點電阻更低（＜5mΩ）、使用壽命更長的轉(zhuǎn)換開頭及繼電器（＞10萬次），在緣電阻、電流容量方面留有更大的安全系數(shù)，提高了測試儀的可靠性和使用壽命。
6、可選配軟件進行數(shù)據(jù)采集,可進行雙組合或單組合測量，實現(xiàn)自動切換電壓檔位、讀取相應(yīng)電壓值，根據(jù)不同方法計算電阻率或方塊電阻值；軟件可對測量數(shù)據(jù)進行分析，如平均值，大值、小值、大百分變化率、平均百分變化率、徑向不均勻度等內(nèi)容。
7、可配KDDJ-3電動測試架，自動上下運行，使測量更方便快捷。
8、四探針頭采用上良好的紅寶石軸套導(dǎo)向結(jié)構(gòu)，使探針的游移率減小，測量重復(fù)性提高
樓板測厚儀/測厚儀 型號：TC-SMY-400A TC-SMY-400A樓板測厚儀，是一種便攜式無損檢測儀器?？捎糜跈z測樓板、剪力墻、梁、柱等混凝土結(jié)構(gòu)的厚度，也可用于檢測其它任何非金屬結(jié)構(gòu)的厚度： 它利用電磁感應(yīng)原理對非金屬結(jié)構(gòu)的厚度進行非破損檢測。 |
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