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半導體激光器測試系統(tǒng)技術文章

時間：2021-7-26閱讀：747
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半導體激光器測試系統(tǒng) 型號：RCD-6311 -X

RCD-6311 -X系列半導體激光器測試系統(tǒng)是一種不需附加手段, 在半導體激光器生產(chǎn)線環(huán)境條件下能直接、快速、準確測量各種輸出形式(包括直接輸出、準直輸出和光纖耦合輸出等)的半導體激光器件參量的儀器。具有測試參數(shù)范圍廣、功能齊全、自動化程度高、操作使用方便可靠、測試精度高等特點。尤其在大功率管芯直接輸出激光參量測試方面是其它儀器所無法替代的。
該系統(tǒng)由探測器、采樣器、角度控制器、信號處理器、計算機等單元組成。根據(jù)用戶的測試要求選擇配置。 可以測量: 激光輸出功率、電流曲線(P-I)、管壓降、電流曲線(V-I)、 閾值電流(Ith)、工作電流(Io)、工作電壓(Vo)、斜率效率(Es)、微分電阻(Rd)、功率效率(Ep)、發(fā)射光譜(λ, δλ)。
同時，可以根據(jù)用戶需求訂制個性化產(chǎn)品。
入射窗孔徑Φ15~25 mm
激光功率測量范圍0~20W、0~200W、0~2000W、0~5000W可選
不確定度5%
工作電流測量范圍0~2A、0~50A、0~150A可選
不確定度3%
發(fā)散角測量范圍-60~+60度
光譜測量范圍600nm~1000nm, 分辨率 0.4nm
校準波長808nm或用戶的其它波長
電壓測量范圍0~4V、0~50V、0~150V可選
驅動電源連續(xù)電源 0~2A, 4V、0~50A,40V可選
脈沖電源0~50A、0~150A, 200V可選

可根據(jù)用戶需求訂制


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