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用于智能化工廠高速檢測的共焦線傳感器

借助 CHRocodile CLS 2.0，您能夠以很高的速度測量高斜率和復(fù)雜的表面并且避免陰影。高速3D共焦線傳感器幾乎可以對所有材料，甚至是難以測量的材料進(jìn)行高度精 確的測量，并且分辨率很高。

高速3D共焦線傳感器通用性確保能夠合格完成各種測量。更重要的是，CHRocodile CLS 2.0 還有助于降低運(yùn)營成本，節(jié)省時(shí)間，并確保工業(yè) 4.0 應(yīng)用中的 100% 控制。

除此之外還有*重要的一項(xiàng)優(yōu)勢，那就是高速 3D 共焦線傳感器 CHRocodile CLS 2.0 比其他替代設(shè)備更小、更輕。

在半導(dǎo)體行業(yè)的應(yīng)用: 引線鍵合檢測、凸點(diǎn)測量、包裝晶圓邊緣檢查、切割槽檢查、缺陷、裸片裂縫、光掩膜光刻。

在消費(fèi)電子領(lǐng)域的進(jìn)一步應(yīng)用: 外殼形貌檢查，輕微、中等和高度彎曲表面的檢查、倒角和轉(zhuǎn)角檢查、直徑/孔/梯形表面檢查、特殊高度物體的外觀檢查。

優(yōu)勢

——高速度、高精度

憑借 2,160 萬個(gè)測量點(diǎn)和每秒高達(dá) 36,000 行的掃描速度，CHRocodile CLS 2.0 非常適合對周期時(shí)間要求高的在線質(zhì)量控制應(yīng)用。同時(shí)，這種傳感器提供的數(shù)據(jù)具有非常高的橫向和軸向分辨率，可實(shí)現(xiàn)精準(zhǔn)測量。

——高度靈活

這種共焦線傳感器的通用性可滿足各種測量需求，例如，形貌結(jié)構(gòu)和厚度測量、成分、分層、透明材料下的表面，以及復(fù)雜的幾何形狀。即使是難以測量的材料，例如漫反射、粗糙、彩色、拋光或反射表面，CHRocodile CLS 2.0 也能高速地進(jìn)行準(zhǔn)確測量。

——無陰影

CHRocodile CLS 2.0 的線性結(jié)構(gòu)與入射光和反射光重疊。因此，在測量特定的幾何形狀時(shí)，不會(huì)出現(xiàn)任何問題，而三角反射測量則會(huì)出現(xiàn)陰影問題。

——易于更換的光學(xué)探頭

該傳感器配置了三個(gè)易于更換的光學(xué)探頭，僅需輕松轉(zhuǎn)換即可使用合適的探頭。您可以選擇*長達(dá)12 mm 線程的探頭，用于大型部件的快速檢測，或者選擇優(yōu) 質(zhì)數(shù)值孔徑的短線，用于測量高度傾斜的表面，例如測量智能手機(jī)、電池或手表顯示玻璃的倒角。

——點(diǎn)密度高

CHRocodile CLS 2.0 以每行 1,200 個(gè)點(diǎn)的密度來掃描物體。結(jié)合與像素間距相當(dāng)?shù)臋M向高分辨率和良好的軸向分辨率，可以獲得高密度的必要信息和優(yōu) 質(zhì)的測量結(jié)果。

技術(shù)數(shù)據(jù)
測量速度：*高每秒 36,000 行
測量范圍：680 - 10600 µm*
橫向分辨率：1 - 8.5 µm*
與外部設(shè)備同步：觸發(fā)輸入，同步輸出，5 個(gè)編碼器輸入，動(dòng)態(tài)鏈接庫 (DLL) 示例代碼
* 具體取決于使用的光學(xué)探頭