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OCI-V-光矢量分析儀
OCI-V-光矢量分析儀

貨物所在地：湖北武漢市

更新時間：2025/1/22 21:00:25

訪問次數(shù)：31

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供應簡介
光矢量分析儀OCI-V是一款快速檢測光學器件損耗、色散和偏振等相關(guān)參數(shù)的光矢量分析系統(tǒng)。


詳細介紹

武漢東隆科技有限公司自研的光矢量分析儀OCI-V其原理是采用線性掃頻光源對待測器件進行掃描，并結(jié)合相干檢測技術(shù)獲取待測器件的瓊斯矩陣，進而獲得器件插損、色散、偏振相關(guān)損耗、偏振模色散等光學參數(shù)。該系統(tǒng)采用光路設計以及先進算法，實現(xiàn)智能校準，操作簡單，極大節(jié)省測試時間。


特點：

  • 自校準

  • 測量長度：200m

  • 波段：C+L、O波段（可選）

  • 1秒內(nèi)測量多種光學參數(shù)


應用：

  • 平面波導器件

  • 硅光器件

  • 光纖器件

  • 波長可調(diào)器件、放大器、濾波器

測量參數(shù)：

  • 偏振相關(guān)損耗PDL

  • 偏振模色散PMD

  • 插損IL

  • 群延時GD

  • 色散CD

  • 瓊斯矩陣參數(shù)

  • 光學相位


參數(shù)：

圖片.png


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