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中國臺(tái)灣P-DUKE電源模塊也會(huì)出現(xiàn)試?yán)匣F(xiàn)象，需要定期做測(cè)試
閱讀：2915 發(fā)布時(shí)間：2021-10-14 中國臺(tái)灣P-DUKE電源模塊在出廠前需要經(jīng)過嚴(yán)格的測(cè)試，高低溫測(cè)試就是其中之一。模塊電源經(jīng)過高低溫測(cè)試，可以保證產(chǎn)品質(zhì)量，降低整個(gè)應(yīng)用過程中出現(xiàn)異常的概率，增加使用壽命。
電源模塊常見故障發(fā)生在早期、中期和后期。電源廠商無法精準(zhǔn)控制中后期，只能操作前期。因此，在將產(chǎn)品交付給客戶之前，必須在交付前排除問題。模塊化電源脆化方法的關(guān)鍵是常溫負(fù)載下的脆化和高溫插件的高低溫測(cè)試。常見的一種是高溫脆化。根據(jù)高溫脆化，可以暴露商品元件的缺點(diǎn)或質(zhì)量差，從而提高產(chǎn)品的可靠性和可靠性。
中國臺(tái)灣P-DUKE電源模塊也會(huì)出現(xiàn)試?yán)匣F(xiàn)象，需要定期做測(cè)。高溫老化是指模擬產(chǎn)品高溫應(yīng)用的自然環(huán)境。高低溫試驗(yàn)時(shí)間通常規(guī)定為12-48小時(shí)。高溫老化有兩個(gè)步驟。一是在高溫自然環(huán)境下設(shè)置插件脆化。另一種是在高溫自然環(huán)境下使用自然環(huán)境標(biāo)準(zhǔn)沖擊模塊電源。
中國臺(tái)灣P-DUKE電源模塊高低溫測(cè)試功能有哪些？
1、當(dāng)電源模塊老化時(shí)，可以通過電腦上的顯示器查看電源在工作姿態(tài)下的統(tǒng)計(jì)數(shù)據(jù)，反映電源的應(yīng)用狀況。
2、長期脆化可監(jiān)測(cè)溫度變化引起的模塊特性變化。
3、當(dāng)它變脆時(shí)，在加工過程中檢查電源。該模塊可長期穩(wěn)定運(yùn)行，提高產(chǎn)品的可靠性。
一般來說，在高低溫測(cè)試的整個(gè)過程中，電源的應(yīng)用條件比人們通常使用的自然環(huán)境更加嚴(yán)苛，規(guī)格更加嚴(yán)格。只有這樣的測(cè)試才能反映模塊電源的可靠性，也只有電源模塊廠商才能保證產(chǎn)品質(zhì)量。