日常使用網(wǎng)絡(luò)分析儀時(shí)是不是會(huì)遇到各種問(wèn)題呢？下面安泰網(wǎng)絡(luò)分析儀維修中心就日常常見(jiàn)問(wèn)題一一分析解答：
1、問(wèn)：如果所用網(wǎng)絡(luò)分析儀中沒(méi)有當(dāng)前所用校準(zhǔn)件數(shù)據(jù)，是否可以進(jìn)行S參數(shù)測(cè)試？
答：測(cè)試數(shù)據(jù)不準(zhǔn)確。沒(méi)有校準(zhǔn)件數(shù)據(jù)的校準(zhǔn)，與不執(zhí)行校準(zhǔn)步驟的準(zhǔn)確度都是未知的。
2、問(wèn)：校準(zhǔn)件損壞怎么辦？
答：訂購(gòu)新的。或者采用替代校準(zhǔn)方法，如TRM（O或S損壞）、UOSM（T損壞）、TRL（M損壞）。
3、問(wèn)：直接直通校準(zhǔn)行不行？
答：準(zhǔn)確度較差。
4、問(wèn)：校準(zhǔn)后，連接直通件，S21讀數(shù)為0嗎？
答：不是，直通校準(zhǔn)件是有插損的。
5、問(wèn)：校準(zhǔn)后，連接短路校準(zhǔn)件，在Smith圖中S11是集中在短路點(diǎn)處嗎？
答：不是，短路器有一定電長(zhǎng)度，因此是在Smith外圓上的一段曲線
6、問(wèn)：網(wǎng)絡(luò)分析儀可以單頻點(diǎn)測(cè)試嗎？
答：可以采用CW或Time模式，進(jìn)行單一頻點(diǎn)的幅度相位差測(cè)試
7、問(wèn)：網(wǎng)絡(luò)分析儀可以進(jìn)行阻抗測(cè)試嗎？
答：可以。Z參數(shù)測(cè)試，或Smith圖中讀取L，C，R
8、問(wèn)：網(wǎng)絡(luò)分析中Delay是指信號(hào)經(jīng)過(guò)DUT的輸入輸出時(shí)間差嗎？
答：不是。Delay是指通過(guò)DUT的信號(hào)的各個(gè)頻率分量之間的時(shí)延差，對(duì)應(yīng)相頻特性。
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