EMI測(cè)試（Electromagnetic Interference Testing，電磁干擾測(cè)試）是一種用于評(píng)估電子設(shè)備在其工作過(guò)程中產(chǎn)生的電磁干擾（EMI）水平的測(cè)試方法。EMI測(cè)試的目的是確保電子設(shè)備在正常工作時(shí)不會(huì)產(chǎn)生過(guò)多的電磁干擾，以免影響其他設(shè)備的正常運(yùn)行。
示波器配近場(chǎng)探頭主要是完成EMI測(cè)試中的輻射發(fā)射測(cè)試，即測(cè)量設(shè)備在工作時(shí)通過(guò)空氣傳播的電磁干擾。除了輻射發(fā)射測(cè)試，EMI測(cè)試還包括傳導(dǎo)發(fā)射測(cè)試，它需要使用EMI測(cè)試接收機(jī)/實(shí)時(shí)頻譜儀+人工電源網(wǎng)絡(luò)+隔離變壓器，測(cè)量設(shè)備在工作時(shí)通過(guò)電源線傳播的電磁干擾。這類測(cè)試通常在屏蔽室內(nèi)進(jìn)行，以減少環(huán)境噪聲對(duì)測(cè)試結(jié)果的影響。
1、確認(rèn)示波器是否有對(duì)應(yīng)的頻譜分析功能或者FFT功能，及對(duì)應(yīng)的頻譜分析帶寬范圍，如1GHz或者3GHz。
2、確認(rèn)示波器是否有對(duì)應(yīng)近場(chǎng)探頭轉(zhuǎn)接頭的N型母頭接口，如果沒(méi)有N型接口就需要選擇帶BNC的轉(zhuǎn)接頭。
3、確認(rèn)被測(cè)物的頻率范圍及對(duì)應(yīng)的近場(chǎng)探頭類型，如磁場(chǎng)或電場(chǎng)，大部分頻率為9kHz~3GHz/6GHz/9GHz/18GHz。
4、連接近場(chǎng)探頭和示波器，打開(kāi)示波器的頻譜分析功能，并且將近場(chǎng)探頭懸停在被測(cè)物上空2厘米處（越近越好），每隔5秒移動(dòng)一次，看波形變化，也可以對(duì)比下開(kāi)啟/關(guān)閉被測(cè)物瞬間波形變化。
5、如果被測(cè)信號(hào)比較小，可以加一個(gè)前置放大器搭配近場(chǎng)探頭使用。
6、發(fā)現(xiàn)干擾源之后，可以更換探頭（形狀由大到?。┖么_認(rèn)具體的位置。
7、近場(chǎng)探頭是定性測(cè)試，不是定量測(cè)試，與暗室測(cè)試結(jié)果不盡相同。
8、長(zhǎng)時(shí)間沒(méi)發(fā)現(xiàn)干擾源的時(shí)候，可以考慮購(gòu)買EMI測(cè)試接收機(jī)或者實(shí)時(shí)頻譜分析儀搭配近場(chǎng)探頭使用。
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