相位差/應(yīng)力雙折射測(cè)量?jī)x PA-300-MT 是Photonic lattice公司傾力打造的測(cè)量?jī)x，PA系列測(cè)量雙折射測(cè)量范圍達(dá)0-130nm，可以測(cè)量的樣品范圍從幾個(gè)毫米到近500毫米，以其技術(shù)光子晶體偏光陣列片，*的雙折射算法設(shè)計(jì)制造，得到每樣品僅需幾秒鐘的測(cè)量能力，是工業(yè)界優(yōu)選。

相位差/應(yīng)力雙折射測(cè)量?jī)xPA-300-MT?主要特點(diǎn)：
 

• 操作簡(jiǎn)單，測(cè)量速度可以快到3秒；
• 視野范圍內(nèi)可一次測(cè)量，測(cè)量范圍廣；
• 更直觀的全面讀取數(shù)據(jù)，無(wú)遺漏數(shù)據(jù)點(diǎn)；
• 具有多種分析功能和測(cè)量結(jié)果的比較；
• 維護(hù)簡(jiǎn)單，不含旋轉(zhuǎn)光學(xué)濾片的機(jī)構(gòu);
• 高達(dá)2056x2464像素的偏振相機(jī)。

相位差/應(yīng)力雙折射測(cè)量?jī)xPA-300-MT應(yīng)用領(lǐng)域：

• 小尺寸樣品
• 光學(xué)鏡頭

主要技術(shù)參數(shù)： 

測(cè)量案例：